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Navarro Botello,Héctor ; Montiel-Nelson, J. A. ; Sosa, J. ; García, J. C. ; Fay, D. Q M Fecha de publicación: 2004 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 40, p. 417-418 SJR: 0,83 - Q1 JCR: 0,968 - Q2 SCIE Artículo
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Navarro-Botello, Victor ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2007 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 38, p. 482-488 JCR: 0,609 - Q3 SCIE Artículo
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Navarro-Botello, Victor ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2007 Localización: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs[ISSN 1549-7747],v. 54, p. 489-493 JCR: 1,104 - Q2 SCIE Artículo
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García, José C. ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2009 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 40, p. 1571-1581 JCR: 0,778 - Q3 SCIE Artículo
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Navarro Botello,Héctor ; Nooshabadi, S.; Montiel-Nelson, J. A. Fecha de publicación: 2009 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 45, p. 348-349 SJR: 0,665 - Q1 JCR: 0,97 - Q3 SCIE Artículo
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García Montesdeoca, José C.; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2009 Localización: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems[ISSN 1063-8210],v. 17, p. 311-316 JCR: 1,01 - Q2 SCIE Artículo
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Monzón-Verona, José Miguel ; Santana-Martín, Francisco Jorge; Garcia-Alonso Montoya, Santiago ; Montiel-Nelson, Juan Antonio Fecha de publicación: 2010 Localización: Sensors (Switzerland)[ISSN 1424-8220],v. 10, p. 9102-9117 JCR: 1,774 - Q3 SCIE Artículo
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Sosa, Javier ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Garcia-Montesdeoca, Jose C. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2010 Localización: Journal of Circuits, Systems and Computers[ISSN 0218-1266],v. 19, p. 1497-1516 JCR: 0,215 - Q4 SCIE Artículo
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Sosa, J. ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2010 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 41, p. 135-141 JCR: 0,789 - Q3 SCIE Artículo
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Sosa, Javier ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Nooshabadi, Saeid Fecha de publicación: 2010 Localización: Journal of Circuits, Systems and Computers[ISSN 0218-1266],v. 19, p. 435-450 JCR: 0,215 - Q4 SCIE Artículo
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