Cabrera Peña, José María ; Quevedo, Eduardo ; Fabelo, Himar ; Ortega, Samuel ; Marrero Callicó, Gustavo , et al. Fecha de publicación: 2021
Localización: Computer Applications in Engineering Education[ISSN 1061-3773], v. 29(5), p. 1358-1371
SJR: 0,594
- Q1
JCR: 2,109
- Q3
SCIE
MIAR ICDS: 11,0
ERIH PLUS
Artículo
Melián Álamo, José María ; Jiménez Delgado, Adán Enrique; Díaz Martín, María ; Morales Carreño, Alejandro ; Horstrand Andaluz, Pablo Sebastian , et al. Fecha de publicación: 2021
Localización: Remote Sensing [EISSN 2072-4292], v. 13 (5), 850, (Marzo 2021)
SJR: 1,283
- Q1
JCR: 5,349
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,6
Artículo
Balea Fernández, Francisco Javier ; Martínez Vega, Beatriz ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; León Martín, Sonia Raquel , et al. Fecha de publicación: 2021
Localización: Journal of Alzheimer's Disease[ISSN 1387-2877],v. 79 (2), p. 845-861
SJR: 1,225
- Q1
JCR: 4,16
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
Florimbi, Giordana; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Torti, Emanuele; Ortega Sarmiento, Samuel ; Marrero Martín, Margarita Luisa , et al. Fecha de publicación: 2020
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 8, p. 8485 - 8501
SJR: 0,587
- Q1
JCR: 3,367
- Q2
SCIE
Artículo
Ortega Sarmiento, Samuel ; Halicek, Martin; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Marrero Callicó, Gustavo Iván ; Fei, Baowei Fecha de publicación: 2020
Localización: Biomedical Optics Express [EISSN 2156-7085], v. 11 (6), p. 3195-3233
SJR: 1,362
- Q1
JCR: 3,732
- Q1
SCIE
Artículo
Díaz Martín, María ; Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Horstrand Andaluz, Pablo Sebastian ; López Suárez, Sebastián ; López Feliciano, José Francisco , et al. Fecha de publicación: 2020
Localización: Remote Sensing [ISSN 2072-4292], v. 12 (8), 1343, (Abril 2020)
SJR: 1,285
- Q1
JCR: 4,848
- Q1
SCIE
Artículo
Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Halicek, Martin; Ortega Sarmiento, Samuel ; Shahedi, Maysam; Zbigniew Szolna,Adam , et al. Fecha de publicación: 2019
Localización: Sensors [ISSN 1424-8220], v. 19 (4), artículo 920
SJR: 0,653
- Q1
JCR: 3,275
- Q2
SCIE
Artículo
Ortega Sarmiento, Samuel ; Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Díaz Martín, María ; López Suárez, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2019
Ponencia
Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Carretero, Gregorio; Almeida Martín, Pablo Julio ; García Romero, Leví Aday ; Hernandez González, Javier Aday, et al. Fecha de publicación: 2019
Localización: 2019 XXXIV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS 2019)
Actas de congresos
Báez Quevedo, Abelardo ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Ortega Sarmiento, Samuel ; Marrero Callicó, Gustavo Iván ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2019
Ponencia
Lazcano, Raquel; Madronal, Daniel; Florimbi, Giordana; Sancho, Jaime; Sanchez, Sergio, et al.
Fecha de publicación: 2019
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 152316-152333, (2019)
SJR: 0,775
- Q1
JCR: 3,745
- Q1
SCIE
Artículo
Ortega Sarmiento, Samuel ; Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Díaz Martín, María ; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; López Suárez, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2019
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 122473 - 122491
SJR: 0,775
- Q1
JCR: 3,745
- Q1
SCIE
Artículo
Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Barrios Alfaro, Yubal ; Díaz Martín, María ; Baez Quevedo, Abelardo ; López Suárez, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2019
Localización: IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing [ISSN 1939-1404], v. 12(12), p. 4813-4828
SJR: 1,48
- Q1
JCR: 3,827
- Q1
SCIE
Artículo
Díaz Martín, María ; Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Horstrand, Pablo; López Suárez, Sebastián ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2019
Localización: IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing [ISSN 0196-2892], v. 57(11), p. 8968-8982
SJR: 2,616
- Q1
JCR: 5,855
- Q1
SCIE
Artículo
Ortiz, Alberto; Guerra Hernández, Raúl Celestino ; Lopez, Sebastian ; Otero, Andrés; Sarmiento Rodríguez, Roberto , et al. Fecha de publicación: 2018
Localización: Remote Sensing [ISSN 2072-4292], v. 10(11), 1790
SJR: 1,43
- Q1
JCR: 4,118
- Q1
SCIE
Artículo