GIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos

Publicaciones de Investigadores

Florimbi, Giordana; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Torti, Emanuele; Ortega Sarmiento, Samuel ; Marrero Martín, Margarita Luisa , et al.
Fecha de publicación: 2020
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 8, p. 8485 - 8501
SJR: 0,587
- Q1
JCR: 3,367
- Q2
SCIE
Artículo
Towards_Real_Time_Computing_Intraoperative.pdf.jpg
Lazcano, Raquel; Madronal, Daniel; Florimbi, Giordana; Sancho, Jaime; Sanchez, Sergio, et al.
Fecha de publicación: 2019
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 152316-152333, (2019)
SJR: 0,775
- Q1
JCR: 3,745
- Q1
SCIE
Artículo
Parallel_Implementations_Assessment.pdf.jpg
Torti, Emanuele; Florimbi, Giordana; Castelli, Francesca; Ortega, Samuel ; Fabelo, Himar , et al.
Fecha de publicación: 2018
Localización: Electronics (Switzerland) [2079-9292],v. 7 (283)
SJR: 0,461
- Q1
JCR: 1,764
- Q3
SCIE
Artículo
Parallel_K-Means_Clustering_for_Brain_Cancer_Detec.pdf.jpg
Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; Sarmiento, Roberto 
Fecha de publicación: 2008
Localización: Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE[ISSN 1530-1591] (4484878), p. 1450-1455
Actas de congresos
Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; Monzón, M. A.; Regidor, R., et al.
Fecha de publicación: 2007
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 6590 (659012)
Actas de congresos
Regidor, Raúl; Esper-Chaín, Roberto ; Tobajas, Félix ; Santana, Octavio; Sarmiento, Roberto 
Fecha de publicación: 2006
Localización: Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (4263602), p. 1256-1259
Actas de congresos
Tobajas, Félix B. ; Esper-Chaín, Roberto ; Regidor, R.; Santana, O. ; Sarmiento Rodríguez, Roberto 
Fecha de publicación: 2006
Localización: 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems,v. 2006 (1649564), p. 19-24
Actas de congresos
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Tubío, O.; Arteaga, R.; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs[ISSN 1549-7747],v. 52, p. 5-9
SCIE
Artículo
Callicó, Gustave M. ; López, Sebastián ; Llopis, Rafael Peset; Sethuraman, Ramanathan; Núñez, Antonio , et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART II (68), p. 613-627
Actas de congresos
Tobajas, Félix ; Esper-Chaín, Roberto ; Tubío, Óscar; Arteaga Mesa,Ruben ; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems [ISSN 0271-4310] (1465463), p. 3821-3824
Actas de congresos
Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; Arteaga, R.; Santana, O.; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART I (14), p. 112-120
Actas de congresos
Tobajas, F. ; Cañero, V.; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. ; Arteaga, R., et al.
Fecha de publicación: 2004
Localización: GLOBECOM - IEEE Global Telecommunications Conference,v. 2, p. 655-659
Actas de congresos
Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. 
Fecha de publicación: 2003
Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 39, p. 580-581
SJR: 1,278
- Q1
JCR: 1,01
- Q2
SCIE
Artículo
Tejera, E.; Esper-Chain, R. ; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Sarmiento, R. 
Fecha de publicación: 2003
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 106-115
Actas de congresos
Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; Sarmiento, R. 
Fecha de publicación: 2003
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 116-125
Actas de congresos
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Sarmiento, R. 
Fecha de publicación: 2002
Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1107-1114
JCR: 0,457
- Q3
SCIE
Artículo
Tubío, O.; Esper-Chaín, R. ; González, F.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2002
Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1097-1105
JCR: 0,457
- Q3
SCIE
Artículo
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al.
Fecha de publicación: 2002
Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1115-1122
JCR: 0,457
- Q3
SCIE
Actas de congresos
Tobajas, Félix ; Esper-Chaín Falcón, Roberto ; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento Rodríguez, Roberto 
Fecha de publicación: 2002
Localización: Globecom'02 [ISSN 1930-529X], v. 1-3, p. 1889-1893, (2002)
Actas de congresos
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al.
Fecha de publicación: 2001
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 91-100
Artículo