|
López, Sebastián ; Tobajas, Félix ; Callicó, Gustave M. ; Pérez, Pedro A.; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: ETRI Journal[ISSN 1225-6463],v. 29, p. 396-398 JCR: 0,936 - Q2 SCIE Artículo
|
López, S. ; Kanstein, A.; López Feliciano, José Francisco ; Berekovic, M.; Sarmiento, R. , et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 6590 (65900A) Actas de congresos
|
Arbelo, C.; Kanstein, A.; López, S. ; López Feliciano, José Francisco ; Berekovic, M., et al. Fecha de publicación: 2007 Localización: Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE[ISSN 1530-1591] (4211792), p. 177-182 Actas de congresos
|
Callicó, Gustavo M. ; Llopis, Rafael Peset; López, Sebastian ; López Feliciano, José Francisco ; Núñez, Antonio , et al. Fecha de publicación: 2006 Localización: Eurasip Journal on Applied Signal Processing[ISSN 1110-8657],v. 2006 (84614) JCR: 0,463 - Q3 Artículo
|
López Gustavo, Sebastián; Callicó, M.; López, J. Fco ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2005 Localización: Vector Plus. Las Palmas de Gran Canaria: Fundación Universitaria, 1994- ISSN 1134-5306, n.25, 2005 Artículo
|
López, S. ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2005 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 41, p. 182-183 SJR: 0,83 - Q1 JCR: 1,016 - Q2 SCIE Artículo
|
Callicó, Gustavo M. ; López, Sebastián ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, Roberto ; Núñez, Antonio , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems[ISSN 0271-4310] (1466039), p. 6130-6133 Actas de congresos
|
López, S. ; Tobajas, F. ; Villar, A.; Bienes, J.; De Armas Sosa, Valentín , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART I (22), p. 174-184 Actas de congresos
|
Callicó, Gustave M. ; López, Sebastián ; Llopis, Rafael Peset; Sethuraman, Ramanathan; Núñez, Antonio , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART II (68), p. 613-627 Actas de congresos
|
López, Sebastián ; Tobajas, Félix ; Villar, Arturo; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco , et al. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems[ISSN 0271-4310] (1464612), p. 412-415 Actas de congresos
|
López, S. ; Callicó, G. M. ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART II (70), p. 638-649 Actas de congresos
|
López, S. ; Callicó, G. M. ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2005 Localización: Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE '05[ISSN 1530-1591],v. 2005 (1395784), p. 2-7 Actas de congresos
|
Celinski, Peter; Cotofana, Sorin D.; López, José F. ; Al-Sarawi, Said; Abbott, Derek Fecha de publicación: 2003 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 53-64 Actas de congresos
|
López, S. ; Callicó, G. M. ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2003 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 39, p. 1720-1721 SJR: 1,278 - Q1 JCR: 1,01 - Q2 SCIE Artículo
|
Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2003 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 39, p. 580-581 SJR: 1,278 - Q1 JCR: 1,01 - Q2 SCIE Artículo
|
Álvarez, Alberto; López, Sebastián ; López, José Fco ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2003 Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 361-369 Actas de congresos
|
Celinski, Peter; López Feliciano, José Francisco ; Al-Sarawi, S.; Abbott, Derek Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1071-1077 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos
|
Celinski, Peter; Al-Sarawi, Said; Abbott, Derek; López, José F. Fecha de publicación: 2002 Localización: Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems[ISSN 0271-4310],v. 1 Actas de congresos
|
Celinski, P.; López, J. F. ; Al-Sarawi, S.; Abbott, D. Fecha de publicación: 2002 Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 38, p. 633-635 SJR: 1,542 - Q1 SCIE Artículo
|
López Feliciano, José Francisco ; Cortés, P.; López, S. ; Sarmiento, R. Fecha de publicación: 2002 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33(12), p. 1123-1134 JCR: 0,457 - Q3 SCIE Actas de congresos
|