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Galante Sempere, David ; Torres-Clarke, Jeffrey; Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Lalchand Khemchandani, Sunil Fecha de publicación: 2024 Localización: Sensors[EISSN 1424-8220],v. 24 (8), (Abril 2024) SJR: 0,786 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
González Pérez, Benito ; Masip, Laia; Lázaro, Marc; Villarino, Ramón; Girbau, David, et al. Fecha de publicación: 2024 Localización: IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], (2024) SJR: 0,785 - Q1 JCR: 3,1 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Galante Sempere, David ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier Fecha de publicación: 2023 Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220] v. 23 (2), 867, (Enero 2023) SJR: 0,786 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Gonzalez, Benito ; Lazaro, Antonio; Rodriguez, Raul Fecha de publicación: 2023 Localización: IEEE Transactions on Electron Devices[ISSN 0018-9383], (Enero 2023) SJR: 0,785 - Q1 JCR: 3,1 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Galante Sempere, David ; Alonso Hernández, Jesús Bernardino Fecha de publicación: 2023 Localización: Libro de Actas de las X Jornadas Iberoamericanas de Innovación Educativa en el ámbito de las TIC y las TAC, Las Palmas de Gran Canaria, 16 y 17 de noviembre de 2023, p. 61-68, (Noviembre 2023) Actas de congresos |
Pino, Javier Del ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; Mayor-Duarte, Daniel; San-Miguel-Montesdeoca, Mario; Mateos-Angulo, Sergio, et al. Fecha de publicación: 2023 Localización: Sensors[ISSN 1424-8220],v. 23 (14), (Julio 2023) SJR: 0,786 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Díez-Acereda, Victoria You ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Diaz-Carballo, Ayoze Fecha de publicación: 2023 SJR: 0,549 - Q2 JCR: 3,4 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 |
Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; San Miguel Montesdeoca, Mario ; Mateos Angulo, Sergio ; Mayor Duarte, Daniel , et al. Fecha de publicación: 2023 Localización: Micromachines [ISSN 2072-666X], v. 14(6), 1184, mayo 2023 SJR: 0,549 - Q2 JCR: 3,4 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |
González, Benito ; Luis C. Nunes; Jo ao L. Gomes; Joana C. Mendes; José L. Jiménez Fecha de publicación: 2023 Localización: IEEE Electron Device Letters, vol. 44, no. 6, pp. 891-894 SJR: 1,25 - Q1 JCR: 4,9 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Cruz-Acosta, Jose Manuel; Galante Sempere, David ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier Fecha de publicación: 2023 SJR: 0,508 - Q2 JCR: 2,7 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,5 Artículo |
Merino Fernández, Irene ; Khemchandani, S. L. ; Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Saiz Pérez, José Luis Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220], v. 22 (23), 9406, (2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Galante Sempere, David ; Ramos Valido, Dailos ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; Del Pino Suárez, Francisco Javier Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors [ISSN 1424-8220], v. 22 (4), 1662, (Febrero 2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Lazaro, M; Lazaro, A; González, B. ; Villarino, R; Girbau, D Fecha de publicación: 2022 SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 |
González Pérez, Benito ; Cabrera Peña, José María ; Lazaro, Antonio Fecha de publicación: 2022 Localización: IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], v. 69 (2), p. 469-474, (Febrero 2022) SJR: 0,773 - Q2 JCR: 3,1 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
González, Benito ; Lazaro, A; Rodriguez, R Fecha de publicación: 2022 Localización: IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], v. 69(5), p. 2307-2312 SJR: 0,773 - Q2 JCR: 3,1 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Vega García, Carlos ; Vega Martínez, Aurelio ; Merino Fernández, Irene ; Pérez Báez, Oscar Fecha de publicación: 2022 Localización: 2022 Congreso de Tecnología, Aprendizaje y Enseñanza de la Electrónica (XV Technologies Applied to Electronics Teaching Conference) Actas de congresos |
Galante Sempere, David ; Del Pino, Javier ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; García-Vázquez, Hugo Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors (Basel, Switzerland)[EISSN 1424-8220],v. 22 (14), (Julio 2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Del Pino Suarez, J. ; Khemchandani, Sunil Lalchand Fecha de publicación: 2021 Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220], v. 21 (19), 6583, (Octubre 2021) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo |
Del Pino, J. ; Khemchandani, Sunil L. ; Galante Sempere, David ; Luján Martínez, C. Fecha de publicación: 2020 Localización: Electronics (Switzerland)[EISSN 2079-9292],v. 9 (10), p. 1-12, (Octubre 2020) SJR: 0,36 - Q2 JCR: 2,397 - Q3 SCIE Artículo |
San Miguel Montesdeoca, Mario ; Mateos Angulo, Sergio ; Mayor Duarte, Daniel; Pino, Javier Del ; Garcia y García, Javier A., et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 8, p. 52863-52871 SJR: 0,587 - Q1 JCR: 3,367 - Q2 SCIE Artículo |