Sendra Sendra,José Ramón

Pino Suárez, Francisco Javier del ; Sendra Sendra, José Ramón ; Hernández Ballester, Antonio ; González, B. ; García García, Javier , et al
Issued date: 2004
Source: Vector Plus. Las Palmas de Gran Canaria: Fundación Universitaria, 1994- ISSN 1134-5306, n.24, 2004
Artículo
0231633_00024_0001.pdf.jpg
González, B. ; Hernández Ballester, Antonio ; García, J. ; Del Pino, F. J. ; Sendra, J. R. , et al
Issued date: 2004
Source: Semiconductor Science and Technology[ISSN 0268-1242],v. 19, p. 648-654
JCR: 2,152
- Q1
SCIE
Artículo
Sendra, José R. ; del Pino, J ; Hernández, Antonio ; Gonzalez, B ; Garcia, J , et al
Issued date: 2003
Source: Analog Integrated Circuits And Signal Processing[ISSN 0925-1030],v. 35 (2-3), p. 121-132
JCR: 0,254
- Q4
SCIE
Artículo
Sendra2003_Article_IntegratedInductorsModelingFor.pdf.jpg
Gutierrez, I.; Garcia, J. ; Sainz, N.; Sendra, J. R. ; De No, J., et al
Issued date: 2003
Source: 2003 Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems - Digest of Papers (1196684), p. 118-121
Actas de congresos
Del Pino, J. ; García, J. ; González, B. ; Sendra, J. R. ; Hernández Ballester, Antonio , et al
Issued date: 2003
Source: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 461-469
Actas de congresos
Empirical model of the metal losses in integrated inductors.pdf.jpg
Escuela, Alfonso M. ; Monagas, Jorge ; Sendra, Jose R. 
Issued date: 2003
Source: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5119, p. 109-116
Actas de congresos
González, Benito ; Hernández Ballester, Antonio ; García, Javier ; Del Pino, F. Javier ; Sendra, José R. , et al
Issued date: 2003
Source: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 527-532
Actas de congresos
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García, J. ; Hernández Ballester, Antonio ; Del Pino, J. ; Sendra, J. R. ; González, B. , et al
Issued date: 2002
Source: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 38, p. 13-14
SJR: 1,542
- Q1
SCIE
Artículo
Aguilera, Jaime; Meléndez, Juan; Berenguer, Roc; Sendra, José Ramón ; Hernández Ballester, Antonio , et al
Issued date: 2002
Source: IEEE Transactions on Electron Devices[ISSN 0018-9383],v. 49, p. 1084-1086
JCR: 1,936
- Q1
SCIE
Artículo
Del Pino, J. ; Sendra, J. R. ; Hernández Ballester, Antonio ; Khemchandani, S. L. ; Aguilera, J., et al
Issued date: 2002
Source: Analog Integrated Circuits and Signal Processing[ISSN 0925-1030],v. 33, p. 171-178
JCR: 0,204
- Q4
SCIE
Artículo
Sendra, J. R. ; del Pino, J ; Hernández, A. ; Hernández, J. ; Aguilera, J., et al
Issued date: 2002
Source: Proceeding Of The 2002 3Rd International Symposium On Quality Electronic Design, p. 400-404
Actas de congresos
Del Pino, Javier ; Sendra, José R. ; Hernández Ballester, Antonio ; García, Javier ; González, Benito , et al
Issued date: 2002
Source: IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference),v. 3, p. 2376-2380
Actas de congresos
Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; Hernández, A.; Sendra, José Ramón ; Núñez, A. 
Issued date: 2001
Ponencia
González, B. ; Hernández Ballester, Antonio ; García, J. ; Del Pino, J. ; Sendra, J. R. , et al
Issued date: 2000
Source: Semiconductor Science and Technology[ISSN 0268-1242],v. 15
JCR: 1,169
- Q1
SCIE
Artículo