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Araña Pulido, Víctor Alexis ; Jiménez Yguacel, Eugenio ; Cabrera-Almeida, Francisco ; Quintana-Morales, Pedro J. Issued date: 2021 Source: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement[ISSN 0018-9456], n. 70, (Marzo 2021) SJR: 1,178 - Q1 JCR: 5,332 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Araña Pulido, Víctor Alexis ; Jiménez Yguacel, Eugenio ; Cabrera Almeida, Francisco José ; Quintana Morales, Pedro José Issued date: 2022 SJR: 1,397 - Q1 JCR: 5,6 - Q1 |
Araña Pulido, Víctor Alexis ; Cabrera Almeida, Francisco José ; Quintana Morales, Pedro José ; Mendieta Otero, Eduardo Issued date: 2023 Source: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement[ISSN 0018-9456], (Enero 2023) SJR: 1,536 - Q1 JCR: 5,6 - Q1 Artículo |
Eneriz, Daniel; Rodriguez-Almeida, Antonio J.; Fabelo, Himar ; Ortega, Samuel ; Balea Fernandez, Francisco Javier , et al Issued date: 2024 Source: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement[ISSN 0018-9456], (Enero 2024) SJR: 1,536 - Q1 JCR: 5,6 - Q1 Artículo |
Dorta Naranjo, Blas Pablo ; Araña Pulido, Víctor Alexis ; Cabrera Almeida, Francisco José ; Jiménez Yguacel, Eugenio Issued date: 2025 Source: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement[ISSN 0018-9456], (Enero 2024) SJR: 1,536 - Q1 JCR: 5,6 - Q1 Artículo |