Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/42743
Título: Monitoring small defects on surface microstructures through backscattering measurements
Autores/as: Albella Echave, Pablo 
Moreno, F.
Saiz, J. M.
González, F.
Fecha de publicación: 2006
Publicación seriada: Optics Letters 
Resumen: The detection and characterization of small defects on particles or structures of a size comparable with the incident wavelength and located on flat substrates is numerically analyzed. For metallic scattering systems, calculations based on the extinction theorem of physical optics show that geometrical information about a small Gaussian defect can be obtained by partially integrating the backscattering patterns.
URI: http://hdl.handle.net/10553/42743
ISSN: 0146-9592
DOI: 10.1364/OL.31.001744
Fuente: Optics Letters [ISSN 0146-9592], v. 31, p. 1744-1746, (2006)
Colección:Artículos
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