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Quinn, H; Robinson, WH; Rech, P; Aguirre, M; Barnard, A, et al. Fecha de publicación: 2015 SJR: 0,924 - Q1 JCR: 3,711 - Q1
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Sánchez Clemente, Antonio José ; Entrena, L.; Garcia-Valderas, M. Fecha de publicación: 2016 Artículo
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Sánchez Clemente, Antonio José ; Entrena, Luis; Hrbacek, Radek; Sekanina, Lukas Fecha de publicación: 2016 Localización: IEEE Transactions on Reliability [ISSN 0018-9529], v. 65(4), p. 1871-1883, (Diciembre 2016) SJR: 1,335 - Q1 JCR: 2,79 - Q1 SCIE Artículo
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Aranda, Luis Alberto; Sánchez Clemente, Antonio José ; Garcia-Herrero, Francisco; Barrios Alfaro, Yubal ; Sarmiento, Roberto , et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Electronics (Switzerland) [EISSN 2079-9292], v. 9 (10), 1681, (Octubre 2020) SJR: 0,36 - Q2 JCR: 2,397 - Q3 SCIE Artículo
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Barrios Alfaro, Yubal ; Rodríguez, Alfonso; Sánchez Clemente, Antonio José ; Pérez, Arturo; López, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: Electronics (Switzerland)[EISSN 2079-9292],v. 9 (10), p. 1-23, (Octubre 2020) SJR: 0,36 - Q2 JCR: 2,397 - Q3 SCIE Artículo
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Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez Clemente, Antonio José ; Santos, Lucana ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2020 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536],v. 8, p. 54269-54287 SJR: 0,587 - Q1 JCR: 3,367 - Q2 SCIE Artículo
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Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez, Antonio ; Guerra, Raúl ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2021 Localización: Remote Sensing [EISSN 2072-4292], v. 13 (21), 4388, (Noviembre 2021) SJR: 1,283 - Q1 JCR: 5,349 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,6 Artículo
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Sanchez Clemente, A. J. ; Blanes, Ian; Barrios Alfaro, Yubal ; Hernandez-Cabronero, Miguel; Bartrina-Rapesta, Joan, et al. Fecha de publicación: 2022 Localización: IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters[ISSN 1545-598X], (Enero 2022) SJR: 1,284 - Q1 JCR: 4,8 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,7 Artículo
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Sánchez Clemente, Antonio José ; Barrios Alfaro,Yubal ; Santos Falcón, Lucana ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2024 Localización: Microprocessors and Microsystems [ ISSN 0141-9331], v. 104, 104987, (Febrero 2024) SJR: 0,549 - Q2 JCR: 1,9 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo
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Barrios Alfaro,Yubal ; Bartrina-Rapestà, Joan; Hernández-Cabronero, Miguel; Sánchez Clemente, Antonio José ; Blanes, Ian, et al. Fecha de publicación: 2024 Localización: Ieee Geoscience And Remote Sensing Letters[ISSN 1545-598X],v. 21, (2024) SJR: 1,248 - Q1 JCR: 4,0 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,7 Artículo
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Rodriguez Molina, Adrian ; Santana, Alejandro; Machado Sánchez,Felipe ; Barrios Alfaro,Yubal ; Hernández Suárez, Emma Cristina , et al. Fecha de publicación: 2024 Localización: Sensors [ISSN 1424-8220], v. 24 (23), (Diciembre 2024) SJR: 0,786 - Q1 JCR: 3,4 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
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