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Sánchez Clemente, Antonio José ; Barrios Alfaro,Yubal ; Santos Falcón, Lucana ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2024 Localización: Microprocessors and Microsystems [ ISSN 0141-9331], v. 104, 104987, (Febrero 2024) SJR: 0,488 - Q2 JCR: 2,6 - Q2 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez Clemente, Antonio José ; Santos, Lucana ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2020 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536],v. 8, p. 54269-54287 SJR: 0,587 - Q1 JCR: 3,367 - Q2 SCIE Artículo |
Sánchez Clemente, Antonio José ; Barrios Alfaro, Yubal ; Santos, Lucana ; Sarmiento, Roberto Fecha de publicación: 2019 Localización: 2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2019 Actas de congresos |
Barrios Alfaro, Yubal ; Sánchez Clemente, Antonio José ; Santos, Lucana ; Lopez, Sebastian ; Lopez, Jose Fco , et al. Fecha de publicación: 2018 Localización: Workshop on Hyperspectral Image and Signal Processing, Evolution in Remote Sensing [ISSN 2158-6276],v. 2018-September Actas de congresos |
Sánchez Clemente, Antonio José ; Barrios Alfaro,Yubal ; Santos Falcón, Lucana ; Sarmiento Rodríguez, Roberto Fecha de publicación: 2018 Localización: OBPDC2018 - 6th International Workshop on OnBoard Payload Data Compression Actas de congresos |
Guerra, Raúl ; Barrios Alfaro, Yubal ; Díaz Martín, María ; Santos, Lucana ; López, Sebastián , et al. Fecha de publicación: 2018 Localización: Remote Sensing [ISSN 2072-4292], v. 10 (3), 428, (2018) SJR: 1,43 - Q1 JCR: 4,118 - Q1 SCIE Artículo |