GIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos

Publicaciones de Investigadores

Florimbi, Giordana; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Torti, Emanuele; Ortega Sarmiento, Samuel ; Marrero Martín, Margarita Luisa , et al.
Fecha de publicación: 2020
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 8, p. 8485 - 8501
SJR: 0,587
- Q1
JCR: 3,367
- Q2
SCIE
Artículo
Towards_Real_Time_Computing_Intraoperative.pdf.jpg
Lazcano, Raquel; Madronal, Daniel; Florimbi, Giordana; Sancho, Jaime; Sanchez, Sergio, et al.
Fecha de publicación: 2019
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 152316-152333, (2019)
SJR: 0,775
- Q1
JCR: 3,745
- Q1
SCIE
Artículo
Parallel_Implementations_Assessment.pdf.jpg
Torti, Emanuele; Florimbi, Giordana; Castelli, Francesca; Ortega, Samuel ; Fabelo, Himar , et al.
Fecha de publicación: 2018
Localización: Electronics (Switzerland) [2079-9292],v. 7 (283)
SJR: 0,461
- Q1
JCR: 1,764
- Q3
SCIE
Artículo
Parallel_K-Means_Clustering_for_Brain_Cancer_Detec.pdf.jpg
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Tubío, O.; Arteaga, R.; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs[ISSN 1549-7747],v. 52, p. 5-9
SCIE
Artículo
Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; López Feliciano, José Francisco ; Sarmiento, R. 
Fecha de publicación: 2003
Localización: Electronics Letters[ISSN 0013-5194],v. 39, p. 580-581
SJR: 1,278
- Q1
JCR: 1,01
- Q2
SCIE
Artículo
Esper-Chaín, R. ; Tobajas, F. ; Sarmiento, R. 
Fecha de publicación: 2002
Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1107-1114
JCR: 0,457
- Q3
SCIE
Artículo
Tubío, O.; Esper-Chaín, R. ; González, F.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2002
Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 33, p. 1097-1105
JCR: 0,457
- Q3
SCIE
Artículo
González, F.; Tubío, O.; Tobajas, F. ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. , et al.
Fecha de publicación: 2001
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 4591, p. 91-100
Artículo
Sarmiento, R ; Tobajas, Félix ; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, Roberto ; López Feliciano, José Francisco , et al.
Fecha de publicación: 1998
Localización: Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (Vlsi) Systems[ISSN 1063-8210],v. 6 (1), p. 18-30
JCR: 0,733
- Q1
SCIE
Artículo