GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica

Publicaciones de Investigadores

González Pérez, Benito ; Masip, Laia; Lázaro, Marc; Villarino, Ramón; Girbau, David, et al.
Fecha de publicación: 2024
Localización: IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], (2024)
SJR: 0,785
- Q1
JCR: 3,1
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 11,0
Artículo
Galante Sempere, David ; Torres-Clarke, Jeffrey; Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Lalchand Khemchandani, Sunil 
Fecha de publicación: 2024
Localización: Sensors[EISSN 1424-8220],v. 24 (8), (Abril 2024)
SJR: 0,786
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
Díez-Acereda, Victoria You ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Diaz-Carballo, Ayoze
Fecha de publicación: 2023
SJR: 0,549
- Q2
JCR: 3,4
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 10,5
González, Benito ; Luis C. Nunes; Jo ao L. Gomes; Joana C. Mendes; José L. Jiménez
Fecha de publicación: 2023
Localización: IEEE Electron Device Letters, vol. 44, no. 6, pp. 891-894
SJR: 1,25
- Q1
JCR: 4,9
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 11,0
Artículo
Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; San Miguel Montesdeoca, Mario ; Mateos Angulo, Sergio ; Mayor Duarte, Daniel , et al.
Fecha de publicación: 2023
Localización: Micromachines [ISSN 2072-666X], v. 14(6), 1184, mayo 2023
SJR: 0,549
- Q2
JCR: 3,4
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 10,5
Artículo
Cruz-Acosta, Jose Manuel; Galante Sempere, David ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier 
Fecha de publicación: 2023
SJR: 0,508
- Q2
JCR: 2,7
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 10,5
Artículo
Pino, Javier Del ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; Mayor-Duarte, Daniel; San-Miguel-Montesdeoca, Mario; Mateos-Angulo, Sergio, et al.
Fecha de publicación: 2023
Localización: Sensors[ISSN 1424-8220],v. 23 (14), (Julio 2023)
SJR: 0,786
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
Gonzalez, Benito ; Lazaro, Antonio; Rodriguez, Raul 
Fecha de publicación: 2023
Localización: IEEE Transactions on Electron Devices[ISSN 0018-9383], (Enero 2023)
SJR: 0,785
- Q1
JCR: 3,1
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 11,0
Artículo
Galante Sempere, David ; Alonso Hernández, Jesús Bernardino 
Fecha de publicación: 2023
Localización: Libro de Actas de las X Jornadas Iberoamericanas de Innovación Educativa en el ámbito de las TIC y las TAC, Las Palmas de Gran Canaria, 16 y 17 de noviembre de 2023, p. 61-68, (Noviembre 2023)
Actas de congresos
Galante Sempere, David ; Lalchand Khemchandani, Sunil ; Del Pino Suárez, Francisco Javier 
Fecha de publicación: 2023
Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220] v. 23 (2), 867, (Enero 2023)
SJR: 0,786
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
Galante Sempere, David ; Del Pino, Javier ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; García-Vázquez, Hugo 
Fecha de publicación: 2022
Localización: Sensors (Basel, Switzerland)[EISSN 1424-8220],v. 22 (14), (Julio 2022)
SJR: 0,803
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
Vega García, Carlos ; Vega Martínez, Aurelio ; Merino Fernández, Irene ; Pérez Báez, Oscar
Fecha de publicación: 2022
Localización: 2022 Congreso de Tecnología, Aprendizaje y Enseñanza de la Electrónica (XV Technologies Applied to Electronics Teaching Conference)
Actas de congresos
Lazaro, M; Lazaro, A; González, B. ; Villarino, R; Girbau, D
Fecha de publicación: 2022
SJR: 0,803
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Galante Sempere, David ; Ramos Valido, Dailos ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; Del Pino Suárez, Francisco Javier 
Fecha de publicación: 2022
Localización: Sensors [ISSN 1424-8220], v. 22 (4), 1662, (Febrero 2022)
SJR: 0,803
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
González Pérez, Benito ; Cabrera Peña, José María ; Lazaro, Antonio
Fecha de publicación: 2022
Localización: IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], v. 69 (2), p. 469-474, (Febrero 2022)
SJR: 0,773
- Q2
JCR: 3,1
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 11,0
Artículo
González, Benito ; Lazaro, A; Rodriguez, R
Fecha de publicación: 2022
Localización: IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], v. 69(5), p. 2307-2312
SJR: 0,773
- Q2
JCR: 3,1
- Q2
SCIE
MIAR ICDS: 11,0
Artículo
Merino Fernández, Irene ; Khemchandani, S. L. ; Del Pino Suárez, Francisco Javier ; Saiz Pérez, José Luis 
Fecha de publicación: 2022
Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220], v. 22 (23), 9406, (2022)
SJR: 0,803
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
Del Pino Suarez, J. ; Khemchandani, Sunil Lalchand 
Fecha de publicación: 2021
Localización: Sensors (Switzerland) [ISSN 1424-8220], v. 21 (19), 6583, (Octubre 2021)
SJR: 0,803
- Q1
JCR: 3,847
- Q1
SCIE
MIAR ICDS: 10,8
Artículo
sensors-21-06583-v2.pdf.jpg
Gonzalez, Benito ; De Santi, Carlo; Rampazzo, Fabiana; Meneghini, Matteo; Núñez Ordóñez, Antonio , et al.
Fecha de publicación: 2020
Localización: IEEE Transactions on Electron Devices [ISSN 0018-9383], v. 67 (12), p. 5408-5414, (Diciembre 2020)
SJR: 0,828
- Q1
JCR: 2,917
- Q2
SCIE
Artículo
10.1109TED.2020.3028358-ACCEPTED MANUSCRIPT.pdf.jpg
San Miguel Montesdeoca, Mario ; Mateos Angulo, Sergio ; Mayor Duarte, Daniel; Pino, Javier Del ; Garcia y García, Javier A., et al.
Fecha de publicación: 2020
Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 8, p. 52863-52871
SJR: 0,587
- Q1
JCR: 3,367
- Q2
SCIE
Artículo
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