IU de Microelectrónica Aplicada

Publicaciones de Investigadores

Hernández, Pablo V. ; Sandoval, Juan D. ; De La Puente, Fernando 
Fecha de publicación: 2014
Localización: 4ta. Conferencia Iberoamericana en Sistemas, Cibernetica e Informatica, CISCI 2005, Memorias,v. 2, p. 436-441
Actas de congresos
De La Puente, Fernando ; Hernández, Pablo V. ; Sandoval, Juan D. 
Fecha de publicación: 2014
Localización: 4ta. Conferencia Iberoamericana en Sistemas, Cibernetica e Informatica, CISCI 2005, Memorias,v. 2, p. 430-435
Actas de congresos
Esper-Chain, Roberto ; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Sendra, Jose R. 
Fecha de publicación: 2014
Localización: Proceedings of the 2014 29th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2014 (7035563)
Actas de congresos
Del Castillo, Ignacio ; Esper-Chaín, Roberto ; Tobajas, Félix ; De Armas, Valentin 
Fecha de publicación: 2013
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering [ISSN 0277-786X], v. 8764 (87640Q), (Agosto 2013)
Actas de congresos
SPIE_Castillo_FINAL v0.2.pdf.jpg
Navarro Botello,Héctor ; Nooshabadi, Saeid; Montiel- Nelson, Juan A. ; Navarro, V.; Sosa, J. , et al.
Fecha de publicación: 2009
Localización: Proceedings of the 10th International Symposium on Quality Electronic Design, ISQED 2009 (4810306), p. 272-275
Actas de congresos
A_geometric_approach_to_register_transfer_level_sa.pdf.jpg
Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; De Armas Sosa, Valentín ; Sarmiento, Roberto 
Fecha de publicación: 2008
Localización: Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE[ISSN 1530-1591] (4484878), p. 1450-1455
Actas de congresos
Montiel-Nelson, Juan A. ; Navarro Botello,Héctor ; Sosa González, Carlos Javier ; Nooshabadi, Saeid; Garcia, Jose C. 
Fecha de publicación: 2007
Localización: 2007 IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems, NEWCAS 2007 (4487974), p. 566-569
Actas de congresos
Arteaga, R.; Tobajas, F. ; Esper-Chaín, R. ; Monzón, M. A.; Regidor, R., et al.
Fecha de publicación: 2007
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 6590 (659012)
Actas de congresos
Tobajas, Félix B. ; Esper-Chaín, Roberto ; Regidor, R.; Santana, O. ; Sarmiento Rodríguez, Roberto 
Fecha de publicación: 2006
Localización: 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems,v. 2006 (1649564), p. 19-24
Actas de congresos
Regidor, Raúl; Esper-Chaín, Roberto ; Tobajas, Félix ; Santana, Octavio; Sarmiento, Roberto 
Fecha de publicación: 2006
Localización: Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (4263602), p. 1256-1259
Actas de congresos
Navarro Botello,Héctor ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Sosa, Javier ; García, José C. 
Fecha de publicación: 2005
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART II (83), p. 754-763
Actas de congresos
Cordo, M.; Sendra, J. R. ; Viera, Agustín; López Silva, S. M.
Fecha de publicación: 2005
Localización: Optics InfoBase Conference Papers
Actas de congresos
De La Puente Arrate, Fernando ; Sandoval, J. D. ; Hernández, P. ; Molina, C. J.
Fecha de publicación: 2005
Localización: 39Th Annual 2005 International Carnahan Conference On Security Technology, Proceedings [ISSN 0737-1160], p. 174-177, 2005
Actas de congresos
Tobajas, F. ; Esper-Chain, R. ; Arteaga, R.; Santana, O.; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART I (14), p. 112-120
Actas de congresos
Tobajas, Félix ; Esper-Chaín, Roberto ; Tubío, Óscar; Arteaga Mesa,Ruben ; De Armas Sosa, Valentín , et al.
Fecha de publicación: 2005
Localización: Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems [ISSN 0271-4310] (1465463), p. 3821-3824
Actas de congresos
Montiel-Nelson, Juan A. ; Navarro Botello,Héctor ; García, José C. ; Sosa González, Carlos Javier 
Fecha de publicación: 2004
Localización: Proceedings - 5th International Symposium on Quality Electronic Design, ISQUED 2004, p. 217-222
Actas de congresos
p217.pdf.jpg
García, José C. ; Montiel-Nelson, Juan A. ; Navarro Botello,Héctor ; Sosa, J 
Fecha de publicación: 2004
Localización: Proceedings - Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition,v. 1, p. 680-681
Actas de congresos
IP1_09.PDF.pdf.jpg
Tobajas, F. ; Cañero, V.; De Armas Sosa, Valentín ; Esper-Chaín, R. ; Arteaga, R., et al.
Fecha de publicación: 2004
Localización: GLOBECOM - IEEE Global Telecommunications Conference,v. 2, p. 655-659
Actas de congresos
Escuela, Alfonso M. ; Monagas, Jorge ; Sendra, Jose R. 
Fecha de publicación: 2003
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5119, p. 109-116
Actas de congresos
Del Pino, J. ; García, J. ; González, B. ; Sendra, J. R. ; Hernández Ballester, Antonio , et al.
Fecha de publicación: 2003
Localización: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5117, p. 461-469
Actas de congresos
Empirical model of the metal losses in integrated inductors.pdf.jpg