Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/77615
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorMartínez Vega, Beatrizen_US
dc.contributor.authorQuevedo Gutiérrez, Eduardo Gregorioen_US
dc.contributor.authorLeón Martín, Sonia Raquelen_US
dc.contributor.authorFabelo Gómez, Himar Antonioen_US
dc.contributor.authorOrtega Sarmiento, Samuelen_US
dc.contributor.authorMarrero Callicó, Gustavo Ivánen_US
dc.contributor.authorCastano, Ireneen_US
dc.contributor.authorCarretero, Gregorioen_US
dc.contributor.authorAlmeida, Pabloen_US
dc.contributor.authorGarcia, Adayen_US
dc.contributor.authorHernandez, Javier A.en_US
dc.contributor.authorUteng, Stigen_US
dc.contributor.authorGodtliebsen, Freden_US
dc.date.accessioned2021-02-09T13:20:08Z-
dc.date.available2021-02-09T13:20:08Z-
dc.date.issued2020en_US
dc.identifier.isbn9781728191324en_US
dc.identifier.otherScopus-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/77615-
dc.description.abstractHyperspectral Imaging (HSI) for dermatology applications lacks a physical model to differentiate between cancerous or non-cancerous pigmented skin lesions. In this paper the statistical properties of a set of HSI data are exploited as an alternative to this limitation. The hyperspectral dermatologic database employed in the experiments is composed by 40 noncancerous and 36 cancerous pigmented skin lesions (PSLs) obtained from 61 patients. The preliminary experiments suggest the potential of a simple statistics metrics, such as the coefficient of variation, to distinguish between cancerous and non-cancerous PSLs using hyperspectral data. A sensitivity result of 100% was achieved in the test set providing an overall accuracy classification of 80%.en_US
dc.languageengen_US
dc.source2020 XXXV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS)en_US
dc.subject320106 Dermatologíaen_US
dc.subject320713 Oncologíaen_US
dc.subject.otherData Classificationen_US
dc.subject.otherHyperspectral Imagingen_US
dc.subject.otherSkin Canceren_US
dc.subject.otherStatistical Analysisen_US
dc.titleStatistics-based Classification Approach for Hyperspectral Dermatologic Data Processingen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conference35th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems - DCIS 2020en_US
dc.identifier.doi10.1109/DCIS51330.2020.9268646en_US
dc.identifier.scopus85098667394-
dc.contributor.authorscopusid57218919933-
dc.contributor.authorscopusid55845740700-
dc.contributor.authorscopusid57212456639-
dc.contributor.authorscopusid56405568500-
dc.contributor.authorscopusid57189334144-
dc.contributor.authorscopusid56006321500-
dc.contributor.authorscopusid57214689598-
dc.contributor.authorscopusid57214972456-
dc.contributor.authorscopusid57197069346-
dc.contributor.authorscopusid55452183800-
dc.contributor.authorscopusid57214748954-
dc.contributor.authorscopusid57216457386-
dc.contributor.authorscopusid55974798000-
dc.investigacionCiencias de la Saluden_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.date.coverdateNoviembre 2020en_US
dc.identifier.conferenceidevents128235-
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Telemática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Matemáticas-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0001-7835-9660-
crisitem.author.orcid0000-0002-5415-3446-
crisitem.author.orcid0000-0002-4287-3200-
crisitem.author.orcid0000-0002-9794-490X-
crisitem.author.orcid0000-0002-7519-954X-
crisitem.author.orcid0000-0002-3784-5504-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameMartínez Vega, Beatriz-
crisitem.author.fullNameQuevedo Gutiérrez, Eduardo Gregorio-
crisitem.author.fullNameLeón Martín,Sonia Raquel-
crisitem.author.fullNameFabelo Gómez, Himar Antonio-
crisitem.author.fullNameOrtega Sarmiento,Samuel-
crisitem.author.fullNameMarrero Callicó, Gustavo Iván-
Colección:Actas de congresos
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