Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/77162
Title: Implementación física y verificación de un VCO robusto frente a radiación en tecnología CMOS de 65nm
Authors: Alemán Ortiz, Darío
Director: Lalchand Khemchandani, Sunil 
Del Pino Suárez, Francisco Javier 
UNESCO Clasification: 3325 Tecnología de las telecomunicaciones
Issue Date: 2018
Department: Departamento de Ingeniería Electrónica Y Automática
Faculty: Escuela de Ingeniería de Telecomunicación y Electrónica
Degree: Grado en Ingeniería en Tecnologías de la Telecomunicación
URI: http://hdl.handle.net/10553/77162
Appears in Collections:Trabajo final de grado
Restringido ULPGC
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