1. accedaCRIS
  2. Publicaciones
  3. Trabajo final de grado
Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/77162
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.advisorLalchand Khemchandani, Suniles
dc.contributor.advisorDel Pino Suárez, Francisco Javieres
dc.contributor.authorAlemán Ortiz, Daríoes
dc.date.accessioned2021-01-15T09:41:55Z-
dc.date.available2021-01-15T09:41:55Z-
dc.date.issued2018en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/77162-
dc.languagespaen_US
dc.subject3325 Tecnología de las telecomunicacionesen_US
dc.titleImplementación física y verificación de un VCO robusto frente a radiación en tecnología CMOS de 65nmes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesisen_US
dc.typeBachelorThesisen_US
dc.contributor.departamentoDepartamento de Ingeniería Electrónica Y Automáticaes
dc.contributor.facultadEscuela de Ingeniería de Telecomunicación y Electrónicaen_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Trabajo final de gradoen_US
dc.identifier.matriculaTFT-47327es
dc.identifier.ulpgcSíen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELes
dc.contributor.titulacionGrado en Ingeniería en Tecnologías de la Telecomunicaciónes
item.grantfulltextrestricted-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.advisor.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.advisor.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.advisor.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.advisor.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.advisor.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.advisor.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
Colección:Trabajo final de grado
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