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http://hdl.handle.net/10553/77162
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | Lalchand Khemchandani, Sunil | es |
| dc.contributor.advisor | Del Pino Suárez, Francisco Javier | es |
| dc.contributor.author | Alemán Ortiz, Darío | es |
| dc.date.accessioned | 2021-01-15T09:41:55Z | - |
| dc.date.available | 2021-01-15T09:41:55Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10553/77162 | - |
| dc.language | spa | en_US |
| dc.subject | 3325 Tecnología de las telecomunicaciones | en_US |
| dc.title | Implementación física y verificación de un VCO robusto frente a radiación en tecnología CMOS de 65nm | es |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | en_US |
| dc.type | BachelorThesis | en_US |
| dc.contributor.departamento | Departamento de Ingeniería Electrónica Y Automática | es |
| dc.contributor.facultad | Escuela de Ingeniería de Telecomunicación y Electrónica | en_US |
| dc.investigacion | Ingeniería y Arquitectura | en_US |
| dc.type2 | Trabajo final de grado | en_US |
| dc.identifier.matricula | TFT-47327 | es |
| dc.identifier.ulpgc | Sí | en_US |
| dc.contributor.buulpgc | BU-TEL | es |
| dc.contributor.titulacion | Grado en Ingeniería en Tecnologías de la Telecomunicación | es |
| item.fulltext | Con texto completo | - |
| item.grantfulltext | restricted | - |
| crisitem.advisor.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
| crisitem.advisor.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
| crisitem.advisor.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
| crisitem.advisor.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
| crisitem.advisor.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
| crisitem.advisor.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
| Appears in Collections: | Trabajo final de grado Restringido ULPGC | |
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