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http://hdl.handle.net/10553/77162
| Title: | Implementación física y verificación de un VCO robusto frente a radiación en tecnología CMOS de 65nm | Authors: | Alemán Ortiz, Darío | Director: | Lalchand Khemchandani, Sunil Del Pino Suárez, Francisco Javier |
UNESCO Clasification: | 3325 Tecnología de las telecomunicaciones | Issue Date: | 2018 | Department: | Departamento de Ingeniería Electrónica Y Automática | Faculty: | Escuela de Ingeniería de Telecomunicación y Electrónica | Degree: | Grado en Ingeniería en Tecnologías de la Telecomunicación | URI: | http://hdl.handle.net/10553/77162 |
| Appears in Collections: | Trabajo final de grado Restringido ULPGC |
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