Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/46925
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorGonzález, Benitoen_US
dc.contributor.authorPérez, José Antonioen_US
dc.contributor.authorKhemchandani, Sunil L.en_US
dc.contributor.authorGoñi-Iturri, Amayaen_US
dc.contributor.authorPino, Javier Delen_US
dc.contributor.authorGarcía, Javieren_US
dc.contributor.otherGarcia Garcia, Javier-
dc.contributor.otherdel Pino, Javier-
dc.date.accessioned2018-11-23T09:27:36Z-
dc.date.available2018-11-23T09:27:36Z-
dc.date.issued2005en_US
dc.identifier.isbn0-8194-5832-5en_US
dc.identifier.issn0277-786Xen_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/46925-
dc.description.abstractIn this paper models for the capacitance of cross integrated varactors based in the PN junction are presented. Three different approximations are assumed, in order to reproduce the measured results of the capacitance. The relative error with the measured capacitance is under 10% in all cases.en_US
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartofProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineeringen_US
dc.sourceProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5837 PART II (116), p. 1015-1022en_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.subject.otherMos Varactorsen_US
dc.subject.otherCapacitanceen_US
dc.subject.otherDiffusionsen_US
dc.subject.otherReverse modelingen_US
dc.subject.otherCapacitorsen_US
dc.subject.otherSemiconductorsen_US
dc.titleDC modeling of PN integrated cross varactorsen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conferenceConference on VLSI Circuits and Systems IIen_US
dc.identifier.doi10.1117/12.608279en_US
dc.identifier.scopus28344456220-
dc.identifier.isi000231723000104-
dcterms.isPartOfVLSI Circuits and Systems II, Pts 1 and 2-
dcterms.sourceVLSI Circuits and Systems II, Pts 1 and 2[ISSN 0277-786X],v. 5837, p. 1015-1022-
dc.contributor.authorscopusid56082155300-
dc.contributor.authorscopusid57199290756-
dc.contributor.authorscopusid9638804400-
dc.contributor.authorscopusid23004401100-
dc.contributor.authorscopusid57198296097-
dc.contributor.authorscopusid8383160900-
dc.description.lastpage1022en_US
dc.identifier.issue116-
dc.description.firstpage1015en_US
dc.relation.volume5837 PART IIen_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.identifier.wosWOS:000231723000104-
dc.contributor.daisngid1092737-
dc.contributor.daisngid2015807-
dc.contributor.daisngid30061581-
dc.contributor.daisngid27076113-
dc.contributor.daisngid6299544-
dc.contributor.daisngid1188406-
dc.contributor.daisngid1774718-
dc.identifier.investigatorRIDI-8093-2015-
dc.identifier.investigatorRIDA-6677-2008-
dc.utils.revisionen_US
dc.contributor.wosstandardWOS:Gonzalez, B-
dc.contributor.wosstandardWOS:Perez, JA-
dc.contributor.wosstandardWOS:Kemchandani, SL-
dc.contributor.wosstandardWOS:Goni-Iturri, A-
dc.contributor.wosstandardWOS:del Pino, J-
dc.contributor.wosstandardWOS:Garcia, J-
dc.date.coverdateDiciembre 2005en_US
dc.identifier.conferenceidevents120464-
dc.identifier.ulpgces
item.grantfulltextopen-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0001-6864-9736-
crisitem.author.orcid0000-0003-0087-2370-
crisitem.author.orcid0000-0003-2610-883X-
crisitem.author.orcid0000-0003-2610-883X-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameGonzález Pérez, Benito-
crisitem.author.fullNameKhemchandani Lalchand, Sunil-
crisitem.author.fullNameDel Pino Suárez, Francisco Javier-
crisitem.author.fullNameDel Pino Suárez, Francisco Javier-
crisitem.event.eventsstartdate09-05-2005-
crisitem.event.eventsenddate11-05-2005-
Colección:Actas de congresos
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