Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/44579
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dc.contributor.authorSantana, Juan J.en_US
dc.contributor.authorGonzález, Sergioen_US
dc.contributor.authorIzquierdo, Javieren_US
dc.contributor.authorSouto, Ricardo M.en_US
dc.contributor.otherSantana Rodriguez, Juan Jose-
dc.contributor.otherSouto, Ricardo M.-
dc.date.accessioned2018-11-22T00:45:59Z-
dc.date.available2018-11-22T00:45:59Z-
dc.date.issued2011en_US
dc.identifier.issn0001-9704en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/44579-
dc.description.abstractLa microscopía electroquímica de barrido (SECM) es una técnica muy apropiada para el estudio local de los procesos de corrosión debido a que suministra información in situ, a escalas micrométrica y submicrométrica, relativa a la topografía y a la actividad electroquímica de superficies reactivas en disolución acuosa. La resolución espacial se obtiene en base a desplazar una sonda colocada en la proximidad de la superficie activa, permitiendo la comparación de las respuestas locales en diferentes regiones. En esta comunicación se presentan los modos de operación de la técnica que encuentran aplicación para la investigación de procesos localizados de corrosión, ilustrándose cada uno de ellos con un ejemplo de su aplicación en el laboratorio de corrosión.en_US
dc.description.abstractScanning Electrochemical Microscopy (SECM) is a technique well suited for the local study of corrosion processes because it provides information in situ, in the micron and submicron scales, on the topography and electrochemical activity of reactive surfaces in aqueous solution. The spatial resolution is attained by rastering a probe in close vicinity of the active surface, allowing to compare local responses in different regions. In this communication various operation modes of the technique are applied for the investigation of localized corrosion processes, illustrating each of them with examples of their application in the corrosion laboratory.en_US
dc.languagespaen_US
dc.publisher0001-9704-
dc.relation.ispartofAfinidaden_US
dc.sourceAfinidad[ISSN 0001-9704],v. 68, p. 44-49en_US
dc.subject3303 ingeniería y tecnología químicasen_US
dc.subject3306 Ingeniería y tecnología eléctricasen_US
dc.subject.otherSECMen_US
dc.subject.otherCorrosiónen_US
dc.subject.otherCaracterización microelectroquímicaen_US
dc.subject.otherReacciones localizadasen_US
dc.titleApplications of scanning electrochemical microscopy (SECM) for the investigation of local corrosion processesen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/Articlees
dc.typeArticlees
dc.identifier.scopus79961033436-
dc.identifier.isi000293047000008-
dcterms.isPartOfAfinidad-
dcterms.sourceAfinidad[ISSN 0001-9704],v. 68 (551), p. 44-49-
dc.contributor.authorscopusid35436067200-
dc.contributor.authorscopusid7202200085-
dc.contributor.authorscopusid35388543300-
dc.contributor.authorscopusid7005304036-
dc.description.lastpage49-
dc.description.firstpage44-
dc.relation.volume68-
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Artículoen_US
dc.identifier.wosWOS:000293047000008-
dc.contributor.daisngid839683-
dc.contributor.daisngid778549
dc.contributor.daisngid5564460
dc.contributor.daisngid4781958-
dc.contributor.daisngid716020-
dc.contributor.daisngid181058-
dc.identifier.investigatorRIDC-4040-2008-
dc.identifier.investigatorRIDG-4004-2014-
dc.utils.revisionen_US
dc.contributor.wosstandardWOS:Santana, JJ
dc.contributor.wosstandardWOS:Gonzalez, S
dc.contributor.wosstandardWOS:Izquierdo, J
dc.contributor.wosstandardWOS:Souto, RM
dc.date.coverdateEnero 2011
dc.identifier.ulpgces
dc.description.sjr0,142
dc.description.jcr0,138
dc.description.sjrqQ4
dc.description.jcrqQ4
dc.description.scieSCIE
item.grantfulltextopen-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.author.deptGIR Sistemas industriales de eficiciencia, instrumentación y protección-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería de Procesos-
crisitem.author.deptGIR IDeTIC: División de Procesado Digital de Señales-
crisitem.author.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.deptDepartamento de Señales y Comunicaciones-
crisitem.author.orcid0000-0002-3030-2195-
crisitem.author.orcid0000-0002-4621-2768-
crisitem.author.parentorgDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.parentorgIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.fullNameSantana Rodríguez, Juan José-
crisitem.author.fullNameTravieso González, Carlos Manuel-
Appears in Collections:Artículos
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Usos de la microscopía electroquímica de barrido (SECM) para la investigación de procesos localizados de corrosión
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