Identificador persistente para citar o vincular este elemento: https://accedacris.ulpgc.es/jspui/handle/10553/154909
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorQuintana Quintana, Lauraen_US
dc.contributor.authorSauras-Colón, Estheren_US
dc.contributor.authorFiorin, Alessioen_US
dc.contributor.authorSantana Núñez, Javieren_US
dc.contributor.authorOrtega Sarmiento, Samuelen_US
dc.contributor.authorGallardo-Borràs, Noèliaen_US
dc.contributor.authorFischer-Carles, Albaen_US
dc.contributor.authorSánchez-Alcántara, Tábataen_US
dc.contributor.authorFabelo Gómez, Himar Antonioen_US
dc.contributor.authorAdalid-Llansa, Laiaen_US
dc.contributor.authorMata-Cano, Danielen_US
dc.contributor.authorBosch-Príncep, Ramonen_US
dc.contributor.authorLejeune, Marylèneen_US
dc.contributor.authorMarrero Callicó, Gustavo Ivánen_US
dc.contributor.authorLópez-Pablo, Carlosen_US
dc.date.accessioned2026-01-13T07:55:05Z-
dc.date.available2026-01-13T07:55:05Z-
dc.date.issued2025en_US
dc.identifier.issn2052-4463en_US
dc.identifier.urihttps://accedacris.ulpgc.es/jspui/handle/10553/154909-
dc.description.abstractMetastasis occurs in nearly 1 out of 3 breast cancer (BC) patients and significantly reduces survival rates, particularly in cases of distant metastases. As most distant metastases develop after diagnosis (i.e., recurrence) and remain incurable, there is a critical need for prognostic biomarkers to assess recurrence risk. Multimodal data analysis has emerged as a promising approach to integrate diverse information, offering a more comprehensive perspective. This study introduces the Histology HSI-BC (hyperspectral imaging - breast cancer) Recurrence Database, the first publicly accessible multimodal database designed to advance BC distant recurrence prediction. The database comprises 47 histopathological whole-slide images, 677 hyperspectral (HS) images, and clinical and demographic data from 47 BC patients, of whom 22 (47%) experienced distant recurrence over a 12-year follow-up. Histopathological slides were digitized using a whole-slide scanner and annotated by expert pathologists, while HS images were acquired with an HS camera coupled to a bright-field microscope. This database provides a promising resource for studying BC recurrence prediction and personalized treatment strategies by integrating the aforementioned multimodal data.en_US
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartofScientific dataen_US
dc.subject3314 Tecnología médicaen_US
dc.titleHistological Hyperspectral Breast Cancer Recurrence Database (HistologyHSI-BC Recurrence)en_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articleen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.doi10.1038/s41597-025-06157-4en_US
dc.identifier.issue1-
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Artículoen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
dc.description.sjr1,867
dc.description.jcr6,9
dc.description.sjrqQ1
dc.description.jcrqQ1
dc.description.scieSCIE
dc.description.miaricds10,3
item.fulltextCon texto completo-
item.grantfulltextopen-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0003-1154-6490-
crisitem.author.orcid0009-0000-5029-5239-
crisitem.author.orcid0000-0002-7519-954X-
crisitem.author.orcid0000-0002-9794-490X-
crisitem.author.orcid0000-0002-3784-5504-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameQuintana Quintana,Laura-
crisitem.author.fullNameSantana Núñez, Javier-
crisitem.author.fullNameOrtega Sarmiento, Samuel-
crisitem.author.fullNameFabelo Gómez, Himar Antonio-
crisitem.author.fullNameMarrero Callicó, Gustavo Iván-
Colección:Artículos
Adobe PDF (3,62 MB)
Vista resumida

Google ScholarTM

Verifica

Altmetric


Comparte



Exporta metadatos



Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.