Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/113103
Título: Test set-ups for fast measurement of monolithic integrated circuits from on-wafer to system. Application to a novel GaAs monolithic transimpedance amplifier for high speed optical communication systems
Autores/as: Dorta-Naranjo, B. Pablo 
Salazar, M.
Casao, J. A.
Cáceres, J. L.
Pérez, J.
Clasificación UNESCO: 3325 Tecnología de las telecomunicaciones
Fecha de publicación: 1992
Editor/a: European Space Research and Technology Center (ESTEC)
European Space Agency (ESA)
Conferencia: European Gallium Arsenide and Related III-V Compounds Applications Symposium (GaAs 1992) 
URI: http://hdl.handle.net/10553/113103
Fuente: Proceedings of GAAS. European Gallium Arsenide and Related III-V Compounds Applications Symposium
Colección:Actas de congresos
Adobe PDF (2,22 MB)
Vista completa

Visitas

24
actualizado el 06-ene-2024

Descargas

7
actualizado el 06-ene-2024

Google ScholarTM

Verifica


Comparte



Exporta metadatos



Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.