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Herrera Melián, J. A. ; Doña Rodríguez, J. M. ; Viera Suárez, A.; Tello Rendón, E. ; Valdés Do Campo, C., et al. Fecha de publicación: 2000 Localización: Chemosphere [ISSN 0045-6535], v. 41, p. 323-327 JCR: 1,033 - Q2 SCIE Artículo
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Doña Rodríguez, José M. ; Melián, José Alberto Herrera ; Peña, Jésus Pérez Fecha de publicación: 2000 Localización: Journal of Chemical Education [ISSN 0021-9584], v. 77, p. 1195-1197 JCR: 0,471 - Q2 SCIE ERIH PLUS Artículo
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Guillén, C.; Martínez, M. A.; Doña, J. M. ; Herrero, J.; Gutiérrez, M. T. Fecha de publicación: 2000 Localización: Informes técnicos CIEMAT [ISSN 1135-9420], n. 941, 38 p. Informe técnico
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Araña, J. ; Tello Rendón, Erick; Doña-Rodríguez, J.M. ; Herrera-Melián, JA ; Gonzalez-Diaz, Oscar M. , et al. Fecha de publicación: 2000 Localización: 2nd. International Conference on Oxidation Technologies for Water and Wastewater Treatment, p. 187 Actas de congresos
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Herrera-Melián, J. A. ; Tello Rendón, E. ; Doña Rodríguez, J. M. ; Viera Suárez, A.; Valdés Do Campo, C., et al. Fecha de publicación: 2000 Localización: Water Research [ISSN 0043-1354], v. 34(16), p. 3967-3976, (Noviembre 2020) JCR: 1,285 - Q1 SCIE Artículo
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Herrero, J.; Gutiérrez, M. T.; Guillén, C.; Doña, J. M. ; Martínez, M. A., et al. Fecha de publicación: 2000 Localización: Thin Solid Films [ISSN 0040-6090], v. 361, p. 28-33 JCR: 1,16 - Q1 SCIE Artículo
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Doña, J. M. ; Pelaez, J. I.; Holgado, A.; Hidalgo, O. Fecha de publicación: 2000 Localización: International Conference on Knowledge-Based Intelligent Electronic Systems, Proceedings, KES, v. 2, p. 606-611 Actas de congresos
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Herrera-Melián, JA ; Doña-Rodríguez, J.M. ; Viera Suárez, A.; Valdés do Campo, Cecilia; Pérez Peña, Jesús Fecha de publicación: 1999 Localización: XXVII Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Química, pp. 493-494 Actas de congresos
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Valdés do Campo, Cecilia; Doña-Rodríguez, J.M. ; Herrera-Melián, JA ; Viera Suárez, A.; Tello Rendón, Erick, et al. Fecha de publicación: 1999 Localización: XXVII Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Química Actas de congresos
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Garcia, Patricio; Suárez Araujo, Carmen Paz ; Rodríguez, Javier ; Rodríguez, Manuel Fecha de publicación: 1998 Localización: Journal Of Neuroscience Methods [ISSN 0165-0270], v. 82 (1), p. 59-73, (Julio 1998) JCR: 1,43 - Q2 SCIE Artículo
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Herrera-Melián, JA ; Montesdeoca Pérez, A.; Tello Rendón, Erick; Doña-Rodríguez, J.M. ; Pérez Peña, Jesús Fecha de publicación: 1998 Localización: Actas del V Congreso Internacional de Química de la ANQUE. II, pp. 341-346 Actas de congresos
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Herrera-Melián, José Alberto ; Doña-Rodríguez, José Miguel ; Hernández-Brito, Joaquín ; Pérez-Peña, Jesús Fecha de publicación: 1997 Localización: Journal of Chemical Education [ISSN 0021-9584], v. 74, p. 1444-1445 JCR: 0,362 - Q2 SCIE ERIH PLUS Artículo
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Doña-Rodríguez, J.M. ; Bernárdez Cordero, P.; Valdés do Campo, Cecilia; Viera Suárez, A.; Pérez Peña, Jesús Fecha de publicación: 1997 Localización: XXVI Reunión Bienal de la Real Sociedad Española de Física : 29 septiembre-3 octubre, Las Palmas de Gran Canaria : resúmenes de las cop. 525 municaciones Actas de congresos
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Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1997 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 144, p. 4081-4091 JCR: 1,994 - Q1 SCIE Artículo
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Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1997 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 144, p. 4091-4098 JCR: 1,994 - Q1 SCIE Artículo
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Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1995 Localización: Thin Solid Films [ISSN 0040-6090], v. 268, p. 5-12 SCIE Artículo
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Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1995 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 142, p. 764-770 SCIE Artículo
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Doña Rodríguez, José Miguel Director/a: Herrero Rueda, José Fecha de publicación: 1995 Tesis doctoral
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Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1994 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 141, p. 205-210 SCIE Artículo
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Doña, J. M. ; González-Velasco, J. Fecha de publicación: 1993 Localización: Surface Science [ISSN 0039-6028], v. 282, p. 202, (1993) SCIE Corrigenda
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