|
Khemchandani, Sunil L. ; Ramos-Valido, Dailos ; García-Vázquez, Hugo ; Pulido-Medina, Ruben; Del Pino, Javier Fecha de publicación: 2010 Localización: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 52, p. 2495-2500 JCR: 0,656 - Q3 SCIE Artículo
|
García-Vázquez, H. ; Khemchandani, Sunil L. ; Arias-Pérez, J.; Del Pino, J. Fecha de publicación: 2010 Localización: Microwave Journal[ISSN 0192-6225],v. 53, p. 74-82 JCR: 0,268 - Q4 SCIE Artículo
|
Vázquez, H. García ; Khemchandani, Sunil L. ; Pulido, R.; Goñi-Iturri, A.; Pino, J. Del Fecha de publicación: 2010 Localización: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 52, p. 1561-1567 JCR: 0,656 - Q3 SCIE Artículo
|
Pino, J. Del ; Khemchandani, Sunil L. ; DÍaz-Ortega, Roberto; Pulido, R.; GarcÍa-VÁzquez, H. Fecha de publicación: 2011 Localización: Journal of Circuits, Systems and Computers[ISSN 0218-1266],v. 20, p. 1231-1242 SJR: 0,18 - Q3 JCR: 0,281 - Q4 SCIE Artículo
|
García-Vázquez, Hugo ; Khemchandani, Sunil L. ; Ramos-Valido, Dailos ; Orbaiceta-Ezcurra, Krisnaya; Del Pino, Javier Fecha de publicación: 2013 Localización: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 55, p. 1435-1440 SJR: 0,371 - Q3 JCR: 0,623 - Q4 SCIE Artículo
|
García-Vázquez, Hugo ; Khemchandani, Sunil L. ; Ramos-Valido, Dailos ; Del Pino, Javier Fecha de publicación: 2014 Localización: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 56, p. 2107-2110 SJR: 0,362 - Q3 JCR: 0,568 - Q4 SCIE Artículo
|
García-Vázquez, Hugo ; Khemchandani, Sunil L. ; Del Pino, Javier Fecha de publicación: 2014 Localización: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 56, p. 528-531 SJR: 0,362 - Q3 JCR: 0,568 - Q4 SCIE Artículo
|
García-Vázquez, H. ; Khemchandani, S. L. ; Del Pino, J. Fecha de publicación: 2015 Localización: Microelectronics Journal[ISSN 0026-2692],v. 46 (3829), p. 581-587 JCR: 0,876 - Q3 SCIE Artículo
|
Galante Sempere, David ; Del Pino, Javier ; Khemchandani, Sunil Lalchand ; García-Vázquez, Hugo Fecha de publicación: 2022 Localización: Sensors (Basel, Switzerland)[EISSN 1424-8220],v. 22 (14), (Julio 2022) SJR: 0,803 - Q1 JCR: 3,847 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 10,8 Artículo
|