|
|
Cabrera Peña, José María ; Quevedo, Eduardo ; Fabelo, Himar ; Ortega, Samuel ; Marrero Callicó, Gustavo , et al. Fecha de publicación: 2021 Localización: Computer Applications in Engineering Education[ISSN 1061-3773], v. 29(5), p. 1358-1371 SJR: 0,594 - Q1 JCR: 2,109 - Q3 SCIE MIAR ICDS: 11,0 ERIH PLUS Artículo |
Florimbi, Giordana; Fabelo Gómez, Himar Antonio ; Torti, Emanuele; Ortega Sarmiento, Samuel ; Marrero Martín, Margarita Luisa , et al. Fecha de publicación: 2020 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 8, p. 8485 - 8501 SJR: 0,587 - Q1 JCR: 3,367 - Q2 SCIE Artículo |
Lazcano, Raquel; Madronal, Daniel; Florimbi, Giordana; Sancho, Jaime; Sanchez, Sergio, et al. Fecha de publicación: 2019 Localización: IEEE Access [ISSN 2169-3536], v. 7, p. 152316-152333, (2019) SJR: 0,775 - Q1 JCR: 3,745 - Q1 SCIE Artículo |
Torti, Emanuele; Florimbi, Giordana; Castelli, Francesca; Ortega, Samuel ; Fabelo, Himar , et al. Fecha de publicación: 2018 Localización: Electronics (Switzerland) [2079-9292],v. 7 (283) SJR: 0,461 - Q1 JCR: 1,764 - Q3 SCIE Artículo |
Fabelo, Himar ; Ortega, Samuel ; Lazcano, Raquel; Madroñal, Daniel; Callicó, Gustavo M. , et al. Fecha de publicación: 2018 Localización: Sensors (Switzerland)[ISSN 1424-8220],v. 18 (430) SJR: 0,592 - Q2 JCR: 3,031 - Q2 SCIE Artículo |