Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/57697
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorPadrón Medina, Miguel Angelen_US
dc.contributor.authorPlaza de la Hoz, Ángelen_US
dc.date.accessioned2019-11-07T09:53:48Z-
dc.date.available2019-11-07T09:53:48Z-
dc.date.issued1999en_US
dc.identifier.isbn84-95286-16-5en_US
dc.identifier.otherDialnet
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/57697-
dc.languagespaen_US
dc.sourceXVI CEDYA Congreso de Ecuaciones Diferenciales y Aplicaciones ; VI CMA Congreso de Matemática Aplicada: Actas. Las Palmas de Gran Canaria, 21-24 septiembre 1999, p. 1269-1276en_US
dc.subject33 Ciencias tecnológicasen_US
dc.titleUna medida de irregularidad topológicaen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bookParten_US
dc.typeBookParten_US
dc.identifier.urlhttp://dialnet.unirioja.es/servlet/articulo?codigo=1334598-
dc.description.lastpage1276-
dc.description.firstpage1269-
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Capítulo de libroen_US
dc.contributor.authordialnetidNo ID-
dc.contributor.authordialnetid214498-
dc.contributor.authordialnetid101951-
dc.identifier.dialnet1334598ARTLIB-
dc.identifier.ulpgces
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Matemáticas, Gráficos y Computación-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Civil-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Matemáticas, Gráficos y Computación-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Matemáticas-
crisitem.author.orcid0000-0001-5493-3090-
crisitem.author.orcid0000-0002-5077-6531-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNamePadrón Medina, Miguel Ángel-
crisitem.author.fullNamePlaza De La Hoz, Ángel-
Appears in Collections:Capítulo de libro
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