Identificador persistente para citar o vincular este elemento:
http://hdl.handle.net/10553/51591
Título: | Reactive ion beam etching of aluminum indium antimonide, gallium indium antimonide heterostructures in electron cyclotron resonance methane/hydrogen/ nitrogen/silicon tetrachloride discharges at room temperature | Autores/as: | Sendra, J. R. Anguita, J. Pérez-Camacho, J. J. Briones, F. |
Fecha de publicación: | 1995 | Editor/a: | 0003-6951 | Publicación seriada: | Applied physics letters | URI: | http://hdl.handle.net/10553/51591 | ISSN: | 0003-6951 | DOI: | 10.1063/1.115223 | Fuente: | Applied Physics Letters[ISSN 0003-6951],v. 67, p. 3289 |
Colección: | Artículos |
Citas SCOPUSTM
6
actualizado el 24-nov-2024
Citas de WEB OF SCIENCETM
Citations
6
actualizado el 24-nov-2024
Visitas
49
actualizado el 15-jun-2024
Google ScholarTM
Verifica
Altmetric
Comparte
Exporta metadatos
Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.