Identificador persistente para citar o vincular este elemento:
http://hdl.handle.net/10553/46926
Campo DC | Valor | idioma |
---|---|---|
dc.contributor.author | Pérez, J. A. | en_US |
dc.contributor.author | González, B. | en_US |
dc.contributor.author | García, J. | en_US |
dc.contributor.author | Del Pino, J. | en_US |
dc.contributor.author | Khemchandani, S. L. | en_US |
dc.contributor.author | Hernández Ballester, Antonio | en_US |
dc.contributor.other | del Pino, Javier | - |
dc.contributor.other | Garcia Garcia, Javier Agustin | - |
dc.date.accessioned | 2018-11-23T09:28:07Z | - |
dc.date.available | 2018-11-23T09:28:07Z | - |
dc.date.issued | 2005 | en_US |
dc.identifier.isbn | 0-7803-8810-0 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10553/46926 | - |
dc.description.abstract | In this paper, models for the capacitance of cross integrated varactors based in the PN junction are presented. Three different approximations are assumed, in order to reproduce the measured results of the capacitance. The relative error with the measured capacitance is under 10% in all cases. | en_US |
dc.language | eng | en_US |
dc.relation.ispartof | 2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings | en_US |
dc.source | 2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings,v. 2005 (1504321), p. 107-110 | en_US |
dc.subject | 3307 Tecnología electrónica | en_US |
dc.subject.other | Mos Varactors | en_US |
dc.subject.other | semiconductor device models | en_US |
dc.subject.other | capacitance measurement | en_US |
dc.subject.other | p-n junctions | en_US |
dc.title | Analytical models for PN cross varactors | en_US |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en_US |
dc.type | ConferenceObject | en_US |
dc.relation.conference | 5th Spanish Conference on Electron Devices | en_US |
dc.identifier.doi | 10.1109/SCED.2005.1504321 | en_US |
dc.identifier.scopus | 33745697869 | - |
dc.identifier.isi | 000230064900025 | - |
dcterms.isPartOf | 2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings | - |
dcterms.source | 2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings, p. 107-110 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 57199290756 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 56082155300 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 8383160900 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 56740582700 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 9639770800 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 57194681887 | - |
dc.description.lastpage | 110 | en_US |
dc.identifier.issue | 1504321 | - |
dc.description.firstpage | 107 | en_US |
dc.relation.volume | 2005 | en_US |
dc.investigacion | Ingeniería y Arquitectura | en_US |
dc.type2 | Actas de congresos | en_US |
dc.identifier.wos | WOS:000230064900025 | - |
dc.contributor.daisngid | 30061581 | - |
dc.contributor.daisngid | 2015807 | - |
dc.contributor.daisngid | 1092737 | - |
dc.contributor.daisngid | 1774718 | - |
dc.contributor.daisngid | 1188406 | - |
dc.contributor.daisngid | 1425987 | - |
dc.contributor.daisngid | 13377547 | - |
dc.contributor.daisngid | 2061817 | - |
dc.identifier.investigatorRID | A-6677-2008 | - |
dc.identifier.investigatorRID | No ID | - |
dc.utils.revision | Sí | en_US |
dc.contributor.wosstandard | WOS:Perez, JA | - |
dc.contributor.wosstandard | WOS:Gonzalez, B | - |
dc.contributor.wosstandard | WOS:Garcia, J | - |
dc.contributor.wosstandard | WOS:del Pino, J | - |
dc.contributor.wosstandard | WOS:Khemchandani, SL | - |
dc.contributor.wosstandard | WOS:Hernandez, A | - |
dc.date.coverdate | 2005 | en_US |
dc.identifier.conferenceid | events120459 | - |
dc.identifier.ulpgc | Sí | es |
dc.contributor.buulpgc | BU-TEL | en_US |
item.grantfulltext | none | - |
item.fulltext | Sin texto completo | - |
crisitem.author.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
crisitem.author.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
crisitem.author.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
crisitem.author.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
crisitem.author.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
crisitem.author.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
crisitem.author.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
crisitem.author.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
crisitem.author.dept | GIR IUMA: Sistemas de Información y Comunicaciones | - |
crisitem.author.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0001-6864-9736 | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0001-6864-9736 | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0003-2610-883X | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0003-2610-883X | - |
crisitem.author.parentorg | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.parentorg | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.parentorg | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.parentorg | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.parentorg | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.fullName | González Pérez, Benito | - |
crisitem.author.fullName | González Pérez, Benito | - |
crisitem.author.fullName | Del Pino Suárez, Francisco Javier | - |
crisitem.author.fullName | Del Pino Suárez, Francisco Javier | - |
crisitem.author.fullName | Hernández Ballester, Antonio | - |
crisitem.event.eventsstartdate | 02-02-2005 | - |
crisitem.event.eventsenddate | 04-02-2005 | - |
Colección: | Actas de congresos |
Citas SCOPUSTM
1
actualizado el 01-dic-2024
Citas de WEB OF SCIENCETM
Citations
1
actualizado el 25-feb-2024
Visitas
79
actualizado el 22-jul-2023
Google ScholarTM
Verifica
Altmetric
Comparte
Exporta metadatos
Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.