Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/46926
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dc.contributor.authorPérez, J. A.en_US
dc.contributor.authorGonzález, B.en_US
dc.contributor.authorGarcía, J.en_US
dc.contributor.authorDel Pino, J.en_US
dc.contributor.authorKhemchandani, S. L.en_US
dc.contributor.authorHernández Ballester, Antonioen_US
dc.contributor.otherdel Pino, Javier-
dc.contributor.otherGarcia Garcia, Javier Agustin-
dc.date.accessioned2018-11-23T09:28:07Z-
dc.date.available2018-11-23T09:28:07Z-
dc.date.issued2005en_US
dc.identifier.isbn0-7803-8810-0en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/46926-
dc.description.abstractIn this paper, models for the capacitance of cross integrated varactors based in the PN junction are presented. Three different approximations are assumed, in order to reproduce the measured results of the capacitance. The relative error with the measured capacitance is under 10% in all cases.en_US
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartof2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedingsen_US
dc.source2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings,v. 2005 (1504321), p. 107-110en_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.subject.otherMos Varactorsen_US
dc.subject.othersemiconductor device modelsen_US
dc.subject.othercapacitance measurementen_US
dc.subject.otherp-n junctionsen_US
dc.titleAnalytical models for PN cross varactorsen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conference5th Spanish Conference on Electron Devicesen_US
dc.identifier.doi10.1109/SCED.2005.1504321en_US
dc.identifier.scopus33745697869-
dc.identifier.isi000230064900025-
dcterms.isPartOf2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings-
dcterms.source2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings, p. 107-110-
dc.contributor.authorscopusid57199290756-
dc.contributor.authorscopusid56082155300-
dc.contributor.authorscopusid8383160900-
dc.contributor.authorscopusid56740582700-
dc.contributor.authorscopusid9639770800-
dc.contributor.authorscopusid57194681887-
dc.description.lastpage110en_US
dc.identifier.issue1504321-
dc.description.firstpage107en_US
dc.relation.volume2005en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.identifier.wosWOS:000230064900025-
dc.contributor.daisngid30061581-
dc.contributor.daisngid2015807-
dc.contributor.daisngid1092737-
dc.contributor.daisngid1774718-
dc.contributor.daisngid1188406-
dc.contributor.daisngid1425987-
dc.contributor.daisngid13377547-
dc.contributor.daisngid2061817-
dc.identifier.investigatorRIDA-6677-2008-
dc.identifier.investigatorRIDNo ID-
dc.utils.revisionen_US
dc.contributor.wosstandardWOS:Perez, JA-
dc.contributor.wosstandardWOS:Gonzalez, B-
dc.contributor.wosstandardWOS:Garcia, J-
dc.contributor.wosstandardWOS:del Pino, J-
dc.contributor.wosstandardWOS:Khemchandani, SL-
dc.contributor.wosstandardWOS:Hernandez, A-
dc.date.coverdate2005en_US
dc.identifier.conferenceidevents120459-
dc.identifier.ulpgces
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Sistemas de Información y Comunicaciones-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0001-6864-9736-
crisitem.author.orcid0000-0001-6864-9736-
crisitem.author.orcid0000-0003-2610-883X-
crisitem.author.orcid0000-0003-2610-883X-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameGonzález Pérez, Benito-
crisitem.author.fullNameGonzález Pérez, Benito-
crisitem.author.fullNameDel Pino Suárez, Francisco Javier-
crisitem.author.fullNameDel Pino Suárez, Francisco Javier-
crisitem.author.fullNameHernández Ballester, Antonio-
crisitem.event.eventsstartdate02-02-2005-
crisitem.event.eventsenddate04-02-2005-
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