Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/45050
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorLópez, S.en_US
dc.contributor.authorCallicó, G. M.en_US
dc.contributor.authorLópez Feliciano, José Franciscoen_US
dc.contributor.authorSarmiento, R.en_US
dc.contributor.otherLopez, Jose-
dc.contributor.otherLopez, Sebastian-
dc.contributor.otherCallico, Gustavo Marrero-
dc.date.accessioned2018-11-22T06:53:19Z-
dc.date.available2018-11-22T06:53:19Z-
dc.date.issued2005en_US
dc.identifier.isbn0-7695-2288-2en_US
dc.identifier.issn1530-1591en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/45050-
dc.description.abstractMotion estimation is the most critical process in video coding systems. First of all, it has a definitive impact on the rate-distortion performance given by the video encoder. Secondly, it is the most computationally intensive process within the encoding loop. For these reasons, the design of high-performance low-cost motion estimators is a crucial task in the video compression field. An adaptive cost block matching (ACBM) motion estimation technique is presented in this paper, featuring an excellent tradeoff between the quality of the reconstructed video sequences and the computational effort. Simulation results demonstrate that the ACBM algorithm achieves a slightly better rate-distortion performance than the one given by the well-known full search algorithm block matching algorithm with reductions of up to 95% in the computational load.en_US
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartofProceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE '05en_US
dc.sourceProceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE '05[ISSN 1530-1591],v. 2005 (1395784), p. 2-7en_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.subject.otherMotion estimationen_US
dc.subject.otherVideo sequencesen_US
dc.subject.otherVideo compressionen_US
dc.subject.otherImage qualityen_US
dc.subject.otherDecodingen_US
dc.titleA high quality/low computational cost technique for block matching motion estimationen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conferenceDesign, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 05)en_US
dc.identifier.doi10.1109/DATE.2005.17en_US
dc.identifier.scopus33646908232-
dc.identifier.isi000228088700001-
dcterms.isPartOfDesigners' Forum: Design, Automation And Test In Europe Conference And Exhibition
dcterms.sourceDesigners' Forum: Design, Automation And Test In Europe Conference And Exhibition[ISSN 1530-1591], p. 2-7
dc.contributor.authorscopusid57187722000-
dc.contributor.authorscopusid56006321500-
dc.contributor.authorscopusid7404444793-
dc.contributor.authorscopusid35609452100-
dc.description.lastpage7en_US
dc.identifier.issue1395784-
dc.description.firstpage2en_US
dc.relation.volume2005en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.identifier.wosWOS:000228088700001-
dc.contributor.daisngid465777-
dc.contributor.daisngid506422-
dc.contributor.daisngid846472-
dc.contributor.daisngid116294-
dc.identifier.investigatorRIDL-6046-2014-
dc.identifier.investigatorRIDL-8108-2014-
dc.identifier.investigatorRIDL-6036-2014-
dc.utils.revisionen_US
dc.contributor.wosstandardWOS:Lopez, S-
dc.contributor.wosstandardWOS:Callico, GM-
dc.contributor.wosstandardWOS:Lopez, JF-
dc.contributor.wosstandardWOS:Sarmiento, R-
dc.date.coverdateDiciembre 2005en_US
dc.identifier.conferenceidevents120447-
dc.identifier.ulpgces
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0002-2360-6721-
crisitem.author.orcid0000-0002-3784-5504-
crisitem.author.orcid0000-0002-6304-2801-
crisitem.author.orcid0000-0002-4843-0507-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameLópez Suárez, Sebastián Miguel-
crisitem.author.fullNameMarrero Callicó, Gustavo Iván-
crisitem.author.fullNameLópez Feliciano, José Francisco-
crisitem.author.fullNameSarmiento Rodríguez, Roberto-
crisitem.event.eventsstartdate07-03-2005-
crisitem.event.eventsenddate11-03-2005-
Colección:Actas de congresos
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