Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/44055
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorFerrer, Miguel A.en_US
dc.contributor.authorVargas, Franciscoen_US
dc.contributor.authorTravieso, Carlos M.en_US
dc.contributor.authorAlonso, Jesús B.en_US
dc.contributor.otherTravieso-Gonzalez, Carlos M.-
dc.contributor.otherFerrer, Miguel A-
dc.contributor.otherAlonso-Hernandez, Jesus B.-
dc.date.accessioned2018-11-21T19:53:27Z-
dc.date.available2018-11-21T19:53:27Z-
dc.date.issued2010en_US
dc.identifier.isbn9781424474004en_US
dc.identifier.issn1071-6572en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/44055-
dc.description.abstractA method for Off-line handwritten signature verification is described in this paper. Recently, several papers have proposed pseudo dynamic methods based on the ink deposition process to discriminate between genuine and fake signatures. The major problem of those methods is the ink texture normalization in order to make the system invariable to the pen. The more extreme pen normalization is the binarization. This paper explores the usefulness of texture based measures with binarized signatures. In particularly, it proposes to apply the gray scale features local binary pattern (LBP) and local directional pattern (LDP) features to characterize black and white static signatures. The experiments done with MCYT75, GPDS300signature and GPDS960signature corpus shown that LDP are very adequate parameters for automatic verification of black and white static signatures. The results are obtained training a Support Vector Machine (SVM) classifier with genuine samples and random forgeries while random and skilled forgeries have been used for testing it.en_US
dc.languagespaen_US
dc.publisher1071-6572en_US
dc.relation.ispartofProceedings - International Carnahan Conference on Security Technologyen_US
dc.sourceProceedings - International Carnahan Conference on Security Technology[ISSN 1071-6572] (5678680), p. 336-340en_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.subject.otherDatabases , Training , Forgery , Robustness , Image segmentation , Off-line handwritten signature verification , Pattern recognition , Gray level information , Texture features , Local directional pattern , SVMen_US
dc.titleSignature verification using Local Directional Pattern (LDP)en_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes
dc.typeConferenceObjectes
dc.relation.conference44th Annual 2010 IEEE International Carnahan Conference on Security Technology
dc.relation.conference44th Annual 2010 IEEE International Carnahan Conference on Security Technology, ICCST 2010
dc.identifier.doi10.1109/CCST.2010.5678680
dc.identifier.scopus78751687386-
dc.identifier.isi000287496000048-
dcterms.isPartOf44Th Annual 2010 Ieee International Carnahan Conference On Security Technology-
dcterms.source44Th Annual 2010 Ieee International Carnahan Conference On Security Technology[ISSN 1071-6572], p. 336-+-
dc.contributor.authorscopusid55636321172-
dc.contributor.authorscopusid57031408800-
dc.contributor.authorscopusid6602376272-
dc.contributor.authorscopusid24774957200-
dc.description.lastpage340-
dc.identifier.issue5678680-
dc.description.firstpage336-
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.identifier.wosWOS:000287496000048-
dc.contributor.daisngid233119-
dc.contributor.daisngid649343-
dc.contributor.daisngid13239151
dc.contributor.daisngid265761-
dc.contributor.daisngid418703-
dc.identifier.investigatorRIDN-5967-2014-
dc.identifier.investigatorRIDL-3863-2013-
dc.identifier.investigatorRIDN-5977-2014-
dc.identifier.externalWOS:000287496000048-
dc.contributor.wosstandardWOS:Ferrer, MA
dc.contributor.wosstandardWOS:Vargas, F
dc.contributor.wosstandardWOS:Travieso, CM
dc.contributor.wosstandardWOS:Alonso, JB
dc.date.coverdateDiciembre 2010
dc.identifier.conferenceidevents120746
dc.identifier.ulpgces
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR IDeTIC: División de Procesado Digital de Señales-
crisitem.author.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.deptDepartamento de Señales y Comunicaciones-
crisitem.author.deptGIR IDeTIC: División de Procesado Digital de Señales-
crisitem.author.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.deptDepartamento de Señales y Comunicaciones-
crisitem.author.deptGIR IDeTIC: División de Procesado Digital de Señales-
crisitem.author.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.deptDepartamento de Señales y Comunicaciones-
crisitem.author.orcid0000-0002-2924-1225-
crisitem.author.orcid0000-0002-4621-2768-
crisitem.author.orcid0000-0002-7866-585X-
crisitem.author.parentorgIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.parentorgIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.parentorgIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.fullNameFerrer Ballester, Miguel Ángel-
crisitem.author.fullNameTravieso González, Carlos Manuel-
crisitem.author.fullNameAlonso Hernández, Jesús Bernardino-
crisitem.event.eventsstartdate05-10-2010-
crisitem.event.eventsstartdate05-10-2010-
crisitem.event.eventsenddate08-10-2010-
crisitem.event.eventsenddate08-10-2010-
Colección:Actas de congresos
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