Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/42735
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorAlbella, P.
dc.contributor.authorSaiz, J. M.
dc.contributor.authorGonzález, F.
dc.contributor.authorMoreno, F.
dc.date.accessioned2018-11-21T10:53:16Z-
dc.date.available2018-11-21T10:53:16Z-
dc.date.issued2009
dc.identifier.isbn9781557528711
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/42735-
dc.relation.ispartofOptics InfoBase Conference Papers
dc.sourceOptics InfoBase Conference Papers
dc.titleNanoscopic inspection of surfaces based on plasmonic resonances
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectes
dc.typeConferenceObjectes
dc.identifier.scopus84898075144
dc.contributor.authorscopusid14032984700
dc.contributor.authorscopusid7005152258
dc.contributor.authorscopusid56034341000
dc.contributor.authorscopusid56251147800
dc.type2Actas de congresoses
dc.identifier.ulpgces
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.orcid0000-0001-7531-7828-
crisitem.author.fullNameAlbella Echave, Pablo-
Colección:Actas de congresos
Vista resumida

Visitas

33
actualizado el 20-jul-2024

Google ScholarTM

Verifica

Altmetric


Comparte



Exporta metadatos



Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.