Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/123062
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorRomero, Jen_US
dc.contributor.authorSocorro, Pen_US
dc.contributor.authorPulido Alonso, Antonioen_US
dc.date.accessioned2023-05-25T08:54:27Z-
dc.date.available2023-05-25T08:54:27Z-
dc.date.issued2000en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/123062-
dc.languagespaen_US
dc.source2º Congreso Español de Metrologíaen_US
dc.subject33 Ciencias tecnológicasen_US
dc.subject.otherISO 10012-1en_US
dc.titleSelección de equipos de medida en la industria según ISO 10012-1en_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceobjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conference2º Congreso Español de Metrologíaen_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.event.eventsstartdate24-05-2000-
crisitem.event.eventsenddate26-05-2000-
crisitem.author.deptGIR SIANI: Computación Evolutiva y Aplicaciones-
crisitem.author.deptIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Eléctrica-
crisitem.author.orcid0000-0002-3406-5086-
crisitem.author.parentorgIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.fullNamePulido Alonso, Antonio-
Colección:Actas de congresos
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