Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/114107
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dc.contributor.authorMorales Carreño, Alejandroen_US
dc.contributor.authorHorstrand, Pabloen_US
dc.contributor.authorGuerra, Raúlen_US
dc.contributor.authorLeón, Raquelen_US
dc.contributor.authorOrtega, Samuelen_US
dc.contributor.authorDíaz Martín, Maríaen_US
dc.contributor.authorMelián, José M.en_US
dc.contributor.authorLópez, Sebastiánen_US
dc.contributor.authorLópez, José F.en_US
dc.contributor.authorCallicó, Gustavo M.en_US
dc.contributor.authorMartel, Ernestinaen_US
dc.contributor.authorSarmiento, Robertoen_US
dc.date.accessioned2022-03-21T09:12:28Z-
dc.date.available2022-03-21T09:12:28Z-
dc.date.issued2022en_US
dc.identifier.issn1424-8220en_US
dc.identifier.otherScopus-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/114107-
dc.description.abstractHyperspectral Imaging (HSI) techniques have demonstrated potential to provide useful information in a broad set of applications in different domains, from precision agriculture to environmental science. A first step in the preparation of the algorithms to be employed outdoors starts at a laboratory level, capturing a high amount of samples to be analysed and processed in order to extract the necessary information about the spectral characteristics of the studied samples in the most precise way. In this article, a custom-made scanning system for hyperspectral image acquisition is described. Commercially available components have been carefully selected in order to be integrated into a flexible infrastructure able to obtain data from any Generic Interface for Cameras (GenICam) compliant devices using the gigabyte Ethernet interface. The entire setup has been tested using the Specim FX hyperspectral series (FX10 and FX17) and a Graphical User Interface (GUI) has been developed in order to control the individual components and visualise data. Morphological analysis, spectral response and optical aberration of these pushbroom-type hyperspectral cameras have been evaluated prior to the validation of the whole system with different plastic samples for which spectral signatures are extracted and compared with well-known spectral libraries.en_US
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartofSensors (Switzerland)en_US
dc.sourceSensors [ISSN 1424-8220], v. 22 (6), 2159, (Marzo 2022)en_US
dc.subject220990 Tratamiento digital. Imágenesen_US
dc.subject.otherAberrationsen_US
dc.subject.otherHyperspectral Imagesen_US
dc.subject.otherImage Acquisitionen_US
dc.subject.otherValidationen_US
dc.titleLaboratory Hyperspectral Image Acquisition System Setup and Validationen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/Articleen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.doi10.3390/s22062159en_US
dc.identifier.scopus85125938700-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.orcidNO DATA-
dc.contributor.authorscopusid57214830931-
dc.contributor.authorscopusid54399861900-
dc.contributor.authorscopusid56333613300-
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dc.contributor.authorscopusid35609452100-
dc.identifier.issue6-
dc.relation.volume22en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Artículoen_US
dc.description.notasThis article belongs to the Special Issue Optical Spectral Sensing and Imaging Technologyen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.date.coverdateMarzo 2022en_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
dc.description.sjr0,803
dc.description.jcr3,847
dc.description.sjrqQ1
dc.description.jcrqQ1
dc.description.scieSCIE
dc.description.miaricds10,8
item.grantfulltextopen-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Eléctrica-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Telemática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0001-7404-3028-
crisitem.author.orcid0000-0002-4303-3051-
crisitem.author.orcid0000-0002-4287-3200-
crisitem.author.orcid0000-0002-7519-954X-
crisitem.author.orcid0000-0003-2670-8149-
crisitem.author.orcid0000-0002-2360-6721-
crisitem.author.orcid0000-0002-6304-2801-
crisitem.author.orcid0000-0002-3784-5504-
crisitem.author.orcid0000-0003-3459-5041-
crisitem.author.orcid0000-0002-4843-0507-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
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crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
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crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameMorales Carreño, Alejandro-
crisitem.author.fullNameHorstrand Andaluz, Pablo Sebastian-
crisitem.author.fullNameGuerra Hernández,Raúl Celestino-
crisitem.author.fullNameLeón Martín,Sonia Raquel-
crisitem.author.fullNameOrtega Sarmiento,Samuel-
crisitem.author.fullNameDíaz Martín,María-
crisitem.author.fullNameLópez Suárez, Sebastián Miguel-
crisitem.author.fullNameLópez Feliciano, José Francisco-
crisitem.author.fullNameMarrero Callicó, Gustavo Iván-
crisitem.author.fullNameMartel Jordán, Ernestina Ángeles-
crisitem.author.fullNameSarmiento Rodríguez, Roberto-
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