Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/113920
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorGalván González, Blas Joséen_US
dc.contributor.authorÁvila, J.en_US
dc.contributor.authorSosa Marco, Adrielen_US
dc.contributor.authorMaarouf, Mustaphaen_US
dc.date.accessioned2022-03-02T14:08:50Z-
dc.date.available2022-03-02T14:08:50Z-
dc.date.issued2013en_US
dc.identifier.citationhttps://www.aec.es/web/guest/congresos/2013-congreso-de-confiabilidad/programaen_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/113920-
dc.languagespaen_US
dc.subject120715 Fiabilidad de sistemasen_US
dc.titleIndicadores de edad para activos físicos con múltiples modos de fallo de importancia variable en el tiempoen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceobjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conferenceXV Congreso de Confiabilidaden_US
dc.relation.volume15en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.date.coverdateNoviembre 2013en_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR SIANI: Computación Evolutiva y Aplicaciones-
crisitem.author.deptIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.deptGIR IDeTIC: División de Ingeniería Térmica e Instrumentación-
crisitem.author.deptIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.orcid0000-0001-5064-0565-
crisitem.author.parentorgIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.parentorgIU para el Desarrollo Tecnológico y la Innovación-
crisitem.author.fullNameGalvan Gonzalez,Blas Jose-
crisitem.author.fullNameSosa Marco,Adriel-
Colección:Actas de congresos
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actualizado el 31-oct-2024

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