Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/107229
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dc.contributor.authorOrtega Sarmiento, Samuelen_US
dc.contributor.authorGuerra Hernández, Raúl Celestinoen_US
dc.contributor.authorFabelo Gómez, Himar Antonioen_US
dc.contributor.authorDíaz Martín, Maríaen_US
dc.contributor.authorLópez Suárez, Sebastiánen_US
dc.contributor.authorMarrero Callicó, Gustavo Ivánen_US
dc.contributor.authorSarmiento Rodríguez, Robertoen_US
dc.date.accessioned2021-05-18T08:59:13Z-
dc.date.available2021-05-18T08:59:13Z-
dc.date.issued2019en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/107229-
dc.description.abstractCurrently, the use of hyperspectral imaging (HSI) for the inspection of microscopic samples in an emerging trend in different fields. The use of push-broom hyperspectral (HS) cameras against other HSI technologies is motivated by their high spectral resolution and their capabilities to exploit spectral ranges beyond 1000 nm. Nevertheless, the use of push-broom cameras coupled to microscopes imposes to perform an accurate spatial scanning of the sample to collect the HS data. In this manuscript, we present a methodology to correctly set-up a HS push-broom microscope to acquire high-quality HS images. First, we present a custom 3D printed mechanical system developed to perform the spatial scanning by performing a linear movement that controls the microscope stage. Then, we discuss the most important characteristics of a microscopic HS system and we propose an image analysis method able to quantitatively verify the correct setup of the system prior to acquire high-quality HS images. Finally, we present a set of images acquired from real microscopic samples, showing the potential of HSI for the microscopic analysis.en_US
dc.languageengen_US
dc.relationIdentificación Hiperespectral de Tumores Cerebrales (Ithaca)en_US
dc.relationPlataforma H2/Sw Distribuida Para El Procesamiento Inteligente de Información Sensorial Heterogenea en Aplicaciones de Supervisión de Grandes Espacios Naturalesen_US
dc.subject220990 Tratamiento digital. Imágenesen_US
dc.subject.otherHyperspectral imagingen_US
dc.subject.otherMicroscopeen_US
dc.subject.otherMicroscopic analysisen_US
dc.subject.otherPush-broom cameraen_US
dc.titleLow-Cost Hyperspectral Push-broom Microscope, targeting Smart Farming Applicationsen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/lectureen_US
dc.typeLectureen_US
dc.relation.conference34th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2019en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Ponenciaen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
item.grantfulltextopen-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.event.eventsstartdate20-11-2019-
crisitem.event.eventsenddate22-11-2019-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0002-7519-954X-
crisitem.author.orcid0000-0002-4303-3051-
crisitem.author.orcid0000-0002-9794-490X-
crisitem.author.orcid0000-0003-2670-8149-
crisitem.author.orcid0000-0002-2360-6721-
crisitem.author.orcid0000-0002-3784-5504-
crisitem.author.orcid0000-0002-4843-0507-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameOrtega Sarmiento,Samuel-
crisitem.author.fullNameGuerra Hernández,Raúl Celestino-
crisitem.author.fullNameFabelo Gómez, Himar Antonio-
crisitem.author.fullNameDíaz Martín,María-
crisitem.author.fullNameLópez Suárez, Sebastián Miguel-
crisitem.author.fullNameMarrero Callicó, Gustavo Iván-
crisitem.author.fullNameSarmiento Rodríguez, Roberto-
crisitem.project.principalinvestigatorMarrero Callicó, Gustavo Iván-
crisitem.project.principalinvestigatorLópez Suárez, Sebastián Miguel-
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