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Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1992 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 139, p. 2810-2814 SCIE Artículo |
Doña, J. M. ; González-Velasco, J. Fecha de publicación: 1992 Localización: Surface Science [ISSN 0039-6028], v. 274, p. 205-214 SCIE Artículo |
Doña, J. M. ; González-Velasco, J. Fecha de publicación: 1993 Localización: Journal of Physical Chemistry [ISSN 0022-3654], v. 97, p. 4714-4719 Artículo |
Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1994 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 141, p. 205-210 SCIE Artículo |
Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1995 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 142, p. 764-770 SCIE Artículo |
Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1995 Localización: Thin Solid Films [ISSN 0040-6090], v. 268, p. 5-12 SCIE Artículo |
Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1997 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 144, p. 4091-4098 JCR: 1,994 - Q1 SCIE Artículo |
Doña, J. M. ; Herrero, J. Fecha de publicación: 1997 Localización: Journal of the Electrochemical Society [ISSN 0013-4651], v. 144, p. 4081-4091 JCR: 1,994 - Q1 SCIE Artículo |
Herrera-Melián, José Alberto ; Doña-Rodríguez, José Miguel ; Hernández-Brito, Joaquín ; Pérez-Peña, Jesús Fecha de publicación: 1997 Localización: Journal of Chemical Education [ISSN 0021-9584], v. 74, p. 1444-1445 JCR: 0,362 - Q2 SCIE ERIH PLUS Artículo |
Garcia, Patricio; Suárez Araujo, Carmen Paz ; Rodríguez, Javier ; Rodríguez, Manuel Fecha de publicación: 1998 Localización: Journal Of Neuroscience Methods [ISSN 0165-0270], v. 82 (1), p. 59-73, (Julio 1998) JCR: 1,43 - Q2 SCIE Artículo |
Herrero, J.; Gutiérrez, M. T.; Guillén, C.; Doña, J. M. ; Martínez, M. A., et al. Fecha de publicación: 2000 Localización: Thin Solid Films [ISSN 0040-6090], v. 361, p. 28-33 JCR: 1,16 - Q1 SCIE Artículo |
Guillén, C.; Martínez, M. A.; Doña, J. M. ; Herrero, J.; Gutiérrez, M. T. Fecha de publicación: 2000 Localización: Informes técnicos CIEMAT [ISSN 1135-9420], n. 941, 38 p. Informe técnico |
Herrera-Melián, J. A. ; Tello Rendón, E. ; Doña Rodríguez, J. M. ; Viera Suárez, A.; Valdés Do Campo, C., et al. Fecha de publicación: 2000 Localización: Water Research [ISSN 0043-1354], v. 34(16), p. 3967-3976, (Noviembre 2020) JCR: 1,285 - Q1 SCIE Artículo |
Herrera Melián, J. A. ; Doña Rodríguez, J. M. ; Viera Suárez, A.; Tello Rendón, E. ; Valdés Do Campo, C., et al. Fecha de publicación: 2000 Localización: Chemosphere [ISSN 0045-6535], v. 41, p. 323-327 JCR: 1,033 - Q2 SCIE Artículo |
Doña Rodríguez, José M. ; Melián, José Alberto Herrera ; Peña, Jésus Pérez Fecha de publicación: 2000 Localización: Journal of Chemical Education [ISSN 0021-9584], v. 77, p. 1195-1197 JCR: 0,471 - Q2 SCIE ERIH PLUS Artículo |
Herrera-Melián, J. A. ; Doña-Rodríguez, J. M. ; Tello Rendón, E. ; Soler Vila, A.; Brunet Quetglas, M., et al. Fecha de publicación: 2001 Localización: Journal of Chemical Education [ISSN 0021-9584], v. 78, p. 775-777 JCR: 0,596 - Q2 SCIE ERIH PLUS Artículo |
Araña, J. ; González Díaz, O. ; Miranda Saracho, M.; Doa Rodríguez, J. M. ; Herrera Melián, J. A. , et al. Fecha de publicación: 2001 Localización: Applied Catalysis B: Environmental [ISSN 0926-3373], v. 32 (1-2), p. 49-61 JCR: 3,643 - Q1 SCIE Artículo |
Araña, J. ; Tello Rendón, E. ; Doa Rodríguez, J. M. ; Herrera Melián, J. A. ; González Díaz, O. , et al. Fecha de publicación: 2001 Localización: Applied Catalysis B: Environmental [ISSN 0926-3373], v. 30 (1-2), p. 1-10 JCR: 3,643 - Q1 SCIE Artículo |
Araña, J. ; Tello Rendón, E. ; Doa Rodríguez, J. M. ; Herrera Melián, J. A. ; González Díaz, O. , et al. Fecha de publicación: 2001 Localización: Chemosphere [ISSN 0045-6535], v. 44, p. 1017-1023 JCR: 1,181 - Q2 SCIE Artículo |
Araña, J. ; Tello Rendón, E. ; Doña-Rodríguez, J.M. ; Herrera Melián, J. A. ; González Díaz, O. , et al. Fecha de publicación: 2002 Localización: Journal of Photochemistry and Photobiology A: Chemistry [ISSN 1010-6030], v. 148 (1-3), p. 215-222 JCR: 1,297 - Q3 SCIE Artículo |