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González Santana, David ; González-Dávila, Melchor ; González, Aridane G. ; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Fariña Santana,Esteban David , et al Issued date: 2024 Source: Science of the Total Environment [ISSN 0048-9697], v. 957, 177638, (Diciembre 2024) SJR: 1,998 - Q1 JCR: 8,2 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Calvo-Lozano, Olalla; Aviñó, Anna; Friaza, Vicente; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Huertas, César S., et al Issued date: 2020 Source: Nanomaterials [EISSN 2079-4991], v. 10 (6), p. 1-18, (Junio 2020) SJR: 0,919 - Q1 JCR: 5,076 - Q1 SCIE Artículo |
Portela, Alejandro; Calvo-Lozano, Olalla; Estevez, M.; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Lechuga, Laura M. Issued date: 2020 Source: Journal of Materials Chemistry B [ISSN 2050-750X], n. 19 SJR: 1,316 - Q1 JCR: 6,331 - Q2 Artículo |
Huertas, Cesar S.; Bonnal, Sophie; Soler, Maria; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Valcárcel, Juan, et al Issued date: 2019 Source: Analytical Chemistry [ISSN 0003-2700], v. 91 (23), p. 15138-15146 SJR: 2,127 - Q1 JCR: 6,785 - Q1 SCIE Artículo |
Esper-Chaín Falcón, Roberto ; Escuela, A.M. ; Sendra Sendra, José Ramón ; Fariña Santana, D. Issued date: 2019 Source: Optics and Laser Technology [ISSN 0030-3992], v. 109, p. 412-417 SJR: 0,792 - Q1 JCR: 3,233 - Q1 SCIE Artículo |
Esper-Chaín, Roberto ; Escuela, Alfonso Medina ; Fariña, David; Sendra, José Ramón Issued date: 2016 Source: IEEE Sensors Journal[ISSN 1530-437X],v. 16 (7234874), p. 109-119 SJR: 0,706 - Q1 JCR: 2,512 - Q1 SCIE Artículo |
García, Fidel ; Aznárez González, Juan José ; Cifuentes Bulté, Héctor; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Maeso Fortuny, Orlando Fco Issued date: 2014 Source: Soil Dynamics and Earthquake Engineering [ISSN 0267-7261], v. 67, p. 264-272 (Diciembre 2014) SJR: 1,344 - Q1 JCR: 1,215 - Q2 SCIE Artículo |
Esper-Chain, Roberto ; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Sendra, Jose R. Issued date: 2014 Source: Proceedings of the 2014 29th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2014 (7035563) Actas de congresos |
Álvarez, Mar; Fariña, David; Medina Escuela, Alfonso Francisco ; Sendra Sendra, José Ramón ; Lechuga, Laura M. Issued date: 2013 Source: Review Of Scientific Instruments[ISSN 0034-6748],v. 84 (1) SJR: 0,898 - Q2 JCR: 1,584 - Q2 SCIE Artículo |
Mauriz, E.; García-Fernández, C.; Mercader, J. V.; Abad-Fuentes, A.; Escuela, A. M. , et al Issued date: 2012 Source: Analytical and Bioanalytical Chemistry[ISSN 1618-2642],v. 404, p. 2877-2886 SJR: 1,347 - Q1 JCR: 3,659 - Q1 SCIE Artículo |
Estevez, M. Carmen; Belenguer, Jose; Gomez-Montes, Silvia; Miralles, Javier; Escuela, Alfonso M. , et al Issued date: 2012 Source: Analyst[ISSN 0003-2654],v. 137, p. 5659-5665 SJR: 1,523 - Q1 JCR: 3,969 - Q1 SCIE Artículo |
Medina Escuela, Alfonso Francisco Advisor: Sendra Sendra, José Ramón Issued date: 2011 Tesis doctoral |
Mauriz, E.; Calle, A.; Manclús, J. J.; Montoya, A. ; Escuela, A. M. , et al Issued date: 2006 Source: Sensors and Actuators, B: Chemical[ISSN 0925-4005],v. 118, p. 399-407 JCR: 2,331 - Q1 SCIE Artículo |
Escuela, Alfonso M. ; Monagas, Jorge ; Sendra, Jose R. Issued date: 2003 Source: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 5119, p. 109-116 Actas de congresos |
Vega Martínez, Aurelio ; Monagas, Jorge ; Cerezo, Juan M. ; Escuela, Alfonso M. Issued date: 2002 Source: Proceedings of the Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society [ISSN 1553-572X], v. 3, p. 1948-1953, (Diciembre 2002) Actas de congresos |
Medina Escuela, Alfonso Francisco Advisor: Vega Martínez, Aurelio ; Cerezo Sánchez, Juan Manuel Degree: Ingeniero de Telecomunicación Issued date: 2001 Proyecto fin de carrera |
Medina Escuela, Alfonso Francisco Advisor: Esteban Teba, Inocente Degree: Ingeniero Técnico de Telecomunicación Issued date: 1993 Proyecto fin de carrera |