Del Pino Suárez, Francisco Javier

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Researcher:  Ramos Valido, Dailos
Structure:  iu de microelectrónica aplicada
Researcher:  garcía vázquez, hugo

Ramos Valido, Dailos ; García-Vázquez, Hugo ; Khemchandani, Sunil L. ; Del Pino, J. 
Issued date: 2015
Source: 2015 1st URSI Atlantic Radio Science Conference (URSI AT-RASC)
Actas de congresos
García-Vázquez, Hugo ; Khemchandani, Sunil L. ; Ramos-Valido, Dailos ; Del Pino, Javier 
Issued date: 2014
Source: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 56, p. 2107-2110
SJR: 0,362
- Q3
JCR: 0,568
- Q4
SCIE
Artículo
Ramos-Valido, D. ; Garcia-Vazquez, H. ; Khemchandani, Sunil L. ; Del Pino, J. ; Lujan-Martinez, C., et al
Issued date: 2014
Source: Proceedings of the 2014 29th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, DCIS 2014 (7035598)
Actas de congresos
García-Vázquez, Hugo ; Khemchandani, Sunil L. ; Ramos-Valido, Dailos ; Orbaiceta-Ezcurra, Krisnaya; Del Pino, Javier 
Issued date: 2013
Source: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 55, p. 1435-1440
SJR: 0,371
- Q3
JCR: 0,623
- Q4
SCIE
Artículo
García-Vázquez, Hugo ; Khemchandani, Sunil L. ; Ramos-Valido, Dailos ; Juanicorena, Aitor; Luján-Martínez, Carmen, et al
Issued date: 2012
Source: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 54, p. 1944-1949
SJR: 0,365
- Q2
JCR: 0,585
- Q3
SCIE
Reseña
Khemchandani, Sunil L. ; Ramos-Valido, Dailos ; García-Vázquez, Hugo ; Pulido-Medina, Ruben; Del Pino, Javier 
Issued date: 2010
Source: Microwave and Optical Technology Letters[ISSN 0895-2477],v. 52, p. 2495-2500
JCR: 0,656
- Q3
SCIE
Artículo