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Rubio-Cidre, Gorka; Badolato, Alejandro; Úbeda-Medina, Luis; Grajal, Jesús; Mencia-Oliva, Beatriz, et al. Fecha de publicación: 2015 Localización: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement[ISSN 0018-9456],v. 64 (7127004), p. 3085-3098 SJR: 0,949 - Q1 JCR: 1,808 - Q2 SCIE Artículo |
Pérez Díaz, Baltasar ; Araña Pulido, Víctor A. ; Cabrera-Almeida, Francisco ; Dorta-Naranjo, B. Pablo Fecha de publicación: 2021 Localización: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement [ISSN 0018-9456], v. 70, 8005411, (Enero 2021) SJR: 1,178 - Q1 JCR: 5,332 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Quintana Quintana, Laura ; Rosa Olmeda, Gonzalo; Santana Núñez, Javier ; Chavarrias, Miguel; Ortega, Samuel , et al. Fecha de publicación: 2025 Localización: IEEE Transactions On Instrumentation And Measurement[ISSN 0018-9456],v. 74, (2025) SJR: 1,536 - Q1 JCR: 5,6 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |
Hernández Suárez, Emma Cristina ; Rodriguez Molina, Adrian ; Pérez García, Ámbar ; Mirza-Rosca, Julia ; López Feliciano, José Fecha de publicación: 2025 SJR: 1,536 - Q1 JCR: 5,6 - Q1 SCIE MIAR ICDS: 11,0 Artículo |