Identificador persistente para citar o vincular este elemento:
http://hdl.handle.net/10553/77500
Campo DC | Valor | idioma |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Del Pino Suárez, Francisco Javier | - |
dc.contributor.advisor | Lalchand Khemchandani, Sunil | - |
dc.contributor.author | Díez Acereda, Victoria | - |
dc.date.accessioned | 2021-02-03T13:02:58Z | - |
dc.date.available | 2021-02-03T13:02:58Z | - |
dc.date.issued | 2018 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10553/77500 | - |
dc.description.abstract | Single event transients (SETs) in analog integrated circuits result from the interaction of a heavy ion or high- energy proton with a sensitive p-n junction. SETs induce electron-hole pairs that can lead to current spikes, which propagate through the integrated circuit and can result in substantial transient peaks at the output voltage. This paper proposes techniques to mitigate SETs and SEU in CMOS frequency synthesizers without affecting circuit specifications. RHBD techniques are applied to redesign the blocks of the frequency synthesizer. | en_US |
dc.language | spa | en_US |
dc.subject | 3325 Tecnología de las telecomunicaciones | en_US |
dc.title | Análisis de los efectos de la radiación espacial en los sintetizadores de frecuencia | en_US |
dc.type | info:eu-repo/semantics/masterThesis | en_US |
dc.type | MasterThesis | en_US |
dc.contributor.centro | IU de Microelectrónica Aplicada | en_US |
dc.contributor.departamento | Departamento de Ingeniería Electrónica Y Automática | en_US |
dc.contributor.facultad | Escuela de Ingeniería de Telecomunicación y Electrónica | en_US |
dc.investigacion | Ingeniería y Arquitectura | en_US |
dc.type2 | Trabajo final de máster | en_US |
dc.utils.revision | Sí | en_US |
dc.identifier.matricula | TFT-47459 | es |
dc.identifier.ulpgc | Sí | en_US |
dc.contributor.buulpgc | BU-TEL | en_US |
dc.contributor.titulacion | Máster Universitario en Tecnologías de Telecomunicación | es |
item.fulltext | Con texto completo | - |
item.grantfulltext | open | - |
crisitem.advisor.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
crisitem.advisor.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.advisor.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
crisitem.advisor.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
crisitem.advisor.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.advisor.dept | Departamento de Ingeniería Electrónica y Automática | - |
crisitem.author.dept | GIR IUMA: Tecnología Microelectrónica | - |
crisitem.author.dept | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0003-0315-4622 | - |
crisitem.author.parentorg | IU de Microelectrónica Aplicada | - |
crisitem.author.fullName | Díez Acereda,Victoria You | - |
Colección: | Trabajo final de máster |
Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.