Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/77500
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.advisorDel Pino Suárez, Francisco Javier-
dc.contributor.advisorLalchand Khemchandani, Sunil-
dc.contributor.authorDíez Acereda, Victoria-
dc.date.accessioned2021-02-03T13:02:58Z-
dc.date.available2021-02-03T13:02:58Z-
dc.date.issued2018en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/77500-
dc.description.abstractSingle event transients (SETs) in analog integrated circuits result from the interaction of a heavy ion or high- energy proton with a sensitive p-n junction. SETs induce electron-hole pairs that can lead to current spikes, which propagate through the integrated circuit and can result in substantial transient peaks at the output voltage. This paper proposes techniques to mitigate SETs and SEU in CMOS frequency synthesizers without affecting circuit specifications. RHBD techniques are applied to redesign the blocks of the frequency synthesizer.en_US
dc.languagespaen_US
dc.subject3325 Tecnología de las telecomunicacionesen_US
dc.titleAnálisis de los efectos de la radiación espacial en los sintetizadores de frecuenciaen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesisen_US
dc.typeMasterThesisen_US
dc.contributor.centroIU de Microelectrónica Aplicadaen_US
dc.contributor.departamentoDepartamento de Ingeniería Electrónica Y Automáticaen_US
dc.contributor.facultadEscuela de Ingeniería de Telecomunicación y Electrónicaen_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Trabajo final de másteren_US
dc.utils.revisionen_US
dc.identifier.matriculaTFT-47459es
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-TELen_US
dc.contributor.titulacionMáster Universitario en Tecnologías de Telecomunicaciónes
item.fulltextCon texto completo-
item.grantfulltextopen-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.orcid0000-0003-0315-4622-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameDíez Acereda, Victoria You-
crisitem.advisor.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.advisor.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.advisor.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.advisor.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.advisor.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.advisor.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
Colección:Trabajo final de máster
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