Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10553/77006
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorLópez, Sebastiánen_US
dc.date.accessioned2020-12-28T15:52:00Z-
dc.date.available2020-12-28T15:52:00Z-
dc.date.issued2011en_US
dc.identifier.issn0141-9331en_US
dc.identifier.otherScopus-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/77006-
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartofMicroprocessors and Microsystemsen_US
dc.sourceMicroprocessors and Microsystems [ISSN 0141-9331], v. 35 (8), p. 657-658, (Noviembre 2011)en_US
dc.subject33 Ciencias tecnológicasen_US
dc.titleDesign and Verification of Complex Digital Systemsen_US
dc.title.alternativePrefaceen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/annotationen_US
dc.typeAnnotationen_US
dc.identifier.doi10.1016/j.micpro.2011.11.002en_US
dc.identifier.scopus81855184929-
dc.contributor.authorscopusid57187722000-
dc.description.lastpage658en_US
dc.identifier.issue8-
dc.description.firstpage657en_US
dc.relation.volume35en_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Comentarioen_US
dc.description.notasDesign and Verification of Complex Digital Systems / Edited by Sebastián Lópezen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.date.coverdateNoviembre 2011en_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
dc.description.sjr0,22
dc.description.jcr0,575
dc.description.sjrqQ3
dc.description.jcrqQ3
dc.description.scieSCIE
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0002-2360-6721-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameLópez Suárez, Sebastián Miguel-
Appears in Collections:Comentario
Show simple item record

Page view(s)

74
checked on Feb 3, 2024

Google ScholarTM

Check

Altmetric


Share



Export metadata



Items in accedaCRIS are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.