Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/75664
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorFernández Hevia, Danielen_US
dc.contributor.authorStampfl, Catherineen_US
dc.contributor.authorViñes, Francescen_US
dc.contributor.authorIllas, Francescen_US
dc.date.accessioned2020-11-18T09:28:50Z-
dc.date.available2020-11-18T09:28:50Z-
dc.date.issued2013en_US
dc.identifier.issn1098-0121en_US
dc.identifier.otherWoS-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/75664-
dc.description.abstractIn contrast to a long held belief, it has been shown that n-type AlN can be achieved through Si-doping. This is unexplainable from the current theoretical understanding, a situation that hinders further progress in AlN-based ultraviolet (UV) technologies. From first-principles calculations, we find that n-type behavior arises under N-rich growth conditions due to high Si solubility and to the formation of V Al-bound Si clusters. We show that metal-rich growth may lead to weak n-type behavior due to oxygen impurities binding and deactivating cation vacancies. We provide clues for designing production processes for n-type AlN as a base material for potential new UV sources.en_US
dc.languageengen_US
dc.relationEfesot-Eficiencia Energética en Protección Contra Sobretensionesen_US
dc.relationCascada-Cambiador de Tomas en Carga Para Redes de Distribución Activa de Energía Eléctrica.en_US
dc.relation.ispartofPhysical Review B - Condensed Matter and Materials Physicsen_US
dc.sourcePhysical Review B [ISSN 1098-0121], v. 88 (8), 085202, (Agosto 2013)en_US
dc.subject3303 ingeniería y tecnología químicasen_US
dc.subject.otherMolecular-Beam Epitaxyen_US
dc.subject.otherConductionen_US
dc.subject.otherAlxga1-Xnen_US
dc.subject.otherDonoren_US
dc.subject.otherGanen_US
dc.subject.otherImpuritiesen_US
dc.subject.otherNitridesen_US
dc.subject.otherDefectsen_US
dc.titleMicroscopic origin of n-type behavior in Si-doped AlNen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/Articleen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.doi10.1103/PhysRevB.88.085202en_US
dc.identifier.isi000322913200004-
dc.identifier.eissn1550-235X-
dc.identifier.issue8-
dc.relation.volume88en_US
dc.investigacionCienciasen_US
dc.type2Artículoen_US
dc.contributor.daisngid3261521-
dc.contributor.daisngid153051-
dc.contributor.daisngid393276-
dc.contributor.daisngid14679-
dc.description.numberofpages6en_US
dc.utils.revisionen_US
dc.contributor.wosstandardWOS:Hevia, DF-
dc.contributor.wosstandardWOS:Stampfl, C-
dc.contributor.wosstandardWOS:Vines, F-
dc.contributor.wosstandardWOS:Illas, F-
dc.date.coverdateAgosto 2013en_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.description.sjr2,804
dc.description.jcr3,664
dc.description.sjrqQ1
dc.description.jcrqQ1
item.grantfulltextopen-
item.fulltextCon texto completo-
crisitem.project.principalinvestigatorPérez Peña,Jesús-
crisitem.project.principalinvestigatorPérez Peña,Jesús-
Colección:Artículos
miniatura
pdf
Adobe PDF (2,27 MB)
Vista resumida

Citas de WEB OF SCIENCETM
Citations

20
actualizado el 25-feb-2024

Visitas

55
actualizado el 03-feb-2024

Descargas

137
actualizado el 03-feb-2024

Google ScholarTM

Verifica

Altmetric


Comparte



Exporta metadatos



Los elementos en ULPGC accedaCRIS están protegidos por derechos de autor con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.