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http://hdl.handle.net/10553/55435
| Título: | Single-Event Effects Analysis Using TCAD and Circuit Domain Combined Simulations | Autores/as: | Mateos Angulo, Sergio San Miguel Montesdeoca, Mario Khemchandani, S. L. Del Pino, J. |
Clasificación UNESCO: | 33 Ciencias tecnológicas | Fecha de publicación: | 2017 | URI: | http://hdl.handle.net/10553/55435 | Fuente: | Biannual European - Latin American Summer School on Design,Test and Reliability (Internacional). Rotterdam, The Netherlands |
| Colección: | Póster de congreso |
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