Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/55435
Título: Single-Event Effects Analysis Using TCAD and Circuit Domain Combined Simulations
Autores/as: Mateos Angulo, Sergio
San Miguel Montesdeoca, Mario
Khemchandani, S. L. 
Del Pino, J. 
Clasificación UNESCO: 33 Ciencias tecnológicas
Fecha de publicación: 2017
URI: http://hdl.handle.net/10553/55435
Fuente: Biannual European - Latin American Summer School on Design,Test and Reliability (Internacional). Rotterdam, The Netherlands
Colección:Póster de congreso
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