1. accedaCRIS
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Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/49645
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorMorales-Ramos, R.en_US
dc.contributor.authorMontiel-Nelson, J. A.en_US
dc.contributor.authorNooshabadi, S.en_US
dc.contributor.authorZwick, A.en_US
dc.contributor.authorNguyen, X. P.en_US
dc.contributor.authorSosa, J.en_US
dc.date.accessioned2018-11-24T09:35:12Z-
dc.date.available2018-11-24T09:35:12Z-
dc.date.issued2011en_US
dc.identifier.isbn9781612848570en_US
dc.identifier.issn1548-3746en_US
dc.identifier.otherWoS-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/49645-
dc.description.abstractWe present a stand-alone fracture monitoring system based on the measurements of two transducers: a strain gauge and a two-axis accelerometer. The strain gauge measure the stiffness of the fracture, and the accelerometer recognizes the movements executed by the patient. An algorithm to process the measured data implemented in an microcontroller minimizes the storage requirements. Experimental results probe the viability of the system.en_US
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartofMidwest Symposium on Circuits and Systemsen_US
dc.sourceMidwest Symposium on Circuits and Systems[ISSN 1548-3746] (6026472)en_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.subject.otherMotion measurementen_US
dc.subject.otherbiomedical measurementen_US
dc.subject.otherbiomedical transducersen_US
dc.subject.otheraccelerometersen_US
dc.subject.othermicrocontrollersen_US
dc.subject.otheraccelerometersen_US
dc.subject.otherstrain gaugesen_US
dc.titleA stand-alone fracture monitoring systemen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conference54th IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems, MWSCAS 2011en_US
dc.identifier.doi10.1109/MWSCAS.2011.6026472en_US
dc.identifier.scopus80053650223-
dc.identifier.isi000296057200208-
dc.contributor.authorscopusid17435277400-
dc.contributor.authorscopusid56231679300-
dc.contributor.authorscopusid6603626866-
dc.contributor.authorscopusid6602486254-
dc.contributor.authorscopusid7003265626-
dc.contributor.authorscopusid8437347800-
dc.identifier.issue6026472-
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.contributor.daisngid5396331-
dc.contributor.daisngid1739656-
dc.contributor.daisngid480589-
dc.contributor.daisngid184255-
dc.contributor.daisngid1455316-
dc.contributor.daisngid1277421-
dc.description.numberofpages4en_US
dc.identifier.eisbn978-1-61284-857-0-
dc.utils.revisionSíen_US
dc.contributor.wosstandardWOS:Morales-Ramos, R-
dc.contributor.wosstandardWOS:Sosa, J-
dc.contributor.wosstandardWOS:Montiel-Nelson, JA-
dc.contributor.wosstandardWOS:Nooshabadi, S-
dc.contributor.wosstandardWOS:Zwick, A-
dc.contributor.wosstandardWOS:Nguyen, XP-
dc.date.coverdateOctubre 2011en_US
dc.identifier.conferenceidevents120770-
dc.identifier.ulpgcSíes
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.event.eventsstartdate07-08-2011-
crisitem.event.eventsenddate10-08-2011-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Instrumentación avanzada-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Instrumentación avanzada-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0003-4323-8097-
crisitem.author.orcid0000-0003-1838-3073-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameMontiel Nelson, Juan Antonio-
crisitem.author.fullNameSosa González, Carlos Javier-
Colección:Actas de congresos
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