Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/43600
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorGarcía, J.en_US
dc.contributor.authorGonzález, B.en_US
dc.contributor.authorMarrero-Martín, M.en_US
dc.contributor.authorAldea, I.en_US
dc.contributor.authorDel Pino, J.en_US
dc.contributor.authorHernández Ballester, Antonioen_US
dc.contributor.otherGarcia Garcia, Javier-
dc.contributor.otherdel Pino, Javier-
dc.contributor.otherMarrero-Martin, Margarita-
dc.date.accessioned2018-11-21T16:26:31Z-
dc.date.available2018-11-21T16:26:31Z-
dc.date.issued2007en_US
dc.identifier.isbn978-0-8194-6718-8en_US
dc.identifier.issn0277-786Xen_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/43600-
dc.description.abstractIn this work, four different structures based on PN junction are studied. These structures are based on changing the geometry of the p+ diffusion. The designed and fabricated devices will be used like integrated varactors in radiofrequency applications. The measures have been made at frequencies since 500 MHz to 10 GHz, and the influence that diffusion geometry has in the capacitance (C), the quality factor (Q) and the tuning range (TR) have been studied. The pn varactors have been simulated with Taurus Device and have been fabricated in a 0.35um SiGe standard process. In order to obtain better benefits of the varactors, the p(+) and n(+) diffusion geometries have been modified. This way, novel structures called crosses, fingers, donuts, and bars have been designed and fabricated. The results of the tuning range have been obtained superior to 40%.
dc.languageengen_US
dc.relation.ispartofProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineeringen_US
dc.sourceProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering[ISSN 0277-786X],v. 6590 (65901E)en_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.subject.otherDesign, pn junction, Integrated varactor, Radio frequency integrated circuit (RFIC)en_US
dc.titleInfluence of the diffusion geometry on PN Integrated Varactorsen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conferenceConference on VLSI Circuits and Systems IIIen_US
dc.identifier.doi10.1117/12.721999en_US
dc.identifier.scopus36249003787-
dc.identifier.isi000250425000048-
dcterms.isPartOfVlsi Circuits And Systems Iii-
dcterms.sourceVlsi Circuits And Systems Iii[ISSN 0277-786X],v. 6590-
dc.contributor.authorscopusid8383160900-
dc.contributor.authorscopusid56082155300-
dc.contributor.authorscopusid23005327400-
dc.contributor.authorscopusid22633657000-
dc.contributor.authorscopusid56740582700-
dc.contributor.authorscopusid57194681887-
dc.identifier.issue65901E-
dc.relation.volume6590en_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.identifier.wosWOS:000250425000048-
dc.contributor.daisngid1774718-
dc.contributor.daisngid1092737-
dc.contributor.daisngid4299279-
dc.contributor.daisngid4481479-
dc.contributor.daisngid21270595-
dc.contributor.daisngid1188406-
dc.contributor.daisngid2061817-
dc.identifier.investigatorRIDI-8093-2015-
dc.identifier.investigatorRIDA-6677-2008-
dc.identifier.investigatorRIDNo ID-
dc.contributor.wosstandardWOS:Garcia, J-
dc.contributor.wosstandardWOS:Gonzalez, B-
dc.contributor.wosstandardWOS:Marrero-Martin, M-
dc.contributor.wosstandardWOS:Aldea, I-
dc.contributor.wosstandardWOS:del Pino, J-
dc.contributor.wosstandardWOS:Hernandez, A-
dc.date.coverdateNoviembre 2007en_US
dc.identifier.conferenceidevents120577-
dc.identifier.ulpgces
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
item.fulltextSin texto completo-
item.grantfulltextnone-
crisitem.event.eventsstartdate02-05-2007-
crisitem.event.eventsenddate04-05-2007-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Sistemas de Información y Comunicaciones-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Sistemas de Información y Comunicaciones-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Tecnología Microelectrónica-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Sistemas de Información y Comunicaciones-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0003-3561-0135-
crisitem.author.orcid0000-0001-6864-9736-
crisitem.author.orcid0000-0002-0861-9954-
crisitem.author.orcid0000-0003-2610-883X-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameGarcía García, Javier Agustín-
crisitem.author.fullNameGonzález Pérez, Benito-
crisitem.author.fullNameMarrero Martín, Margarita Luisa-
crisitem.author.fullNameDel Pino Suárez, Francisco Javier-
crisitem.author.fullNameHernández Ballester, Antonio-
Colección:Actas de congresos
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