Identificador persistente para citar o vincular este elemento:
http://hdl.handle.net/10553/42738
Campo DC | Valor | idioma |
---|---|---|
dc.contributor.author | Albella, P. | |
dc.contributor.author | Moreno, F. | |
dc.contributor.author | Saiz, J. M. | |
dc.contributor.author | González, F. | |
dc.date.accessioned | 2018-11-21T10:53:56Z | - |
dc.date.available | 2018-11-21T10:53:56Z | - |
dc.date.issued | 2008 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10553/42738 | - |
dc.relation.ispartof | Optics Express | |
dc.source | Optics Express,v. 16, p. 12872-12879 | |
dc.title | Surface inspection by monitoring spectral shifts of localized plasmon resonances | |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | es |
dc.type | Article | es |
dc.identifier.doi | 10.1364/OE.16.012872 | |
dc.identifier.scopus | 50049109732 | - |
dc.contributor.authorscopusid | 14032984700 | |
dc.contributor.authorscopusid | 56251147800 | |
dc.contributor.authorscopusid | 7005152258 | |
dc.contributor.authorscopusid | 56034341000 | |
dc.description.lastpage | 12879 | |
dc.description.firstpage | 12872 | |
dc.relation.volume | 16 | |
dc.type2 | Artículo | es |
dc.identifier.ulpgc | Sí | es |
dc.description.jcr | 3,88 | |
dc.description.jcrq | Q1 | |
dc.description.scie | SCIE | |
item.grantfulltext | none | - |
item.fulltext | Sin texto completo | - |
crisitem.author.orcid | 0000-0001-7531-7828 | - |
crisitem.author.fullName | Albella Echave, Pablo | - |
Colección: | Artículos |
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