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http://hdl.handle.net/10553/42737
Título: | Nanoscopic surface inspection by analyzing the linear polarization degree of the scattered light | Autores/as: | Albella Echave, Pablo Saiz, J. M. Sanz, J. M. González, F. Moreno, F. |
Fecha de publicación: | 2009 | Publicación seriada: | Optics Letters | Resumen: | We present an optical method for the nanoscopic inspection of surfaces. The method is based on the spectral and polarization analysis of the light scattered by a probe nanoparticle close to the inspected surface. We explore the sensitivity to changes either in the probe–surface distance or in the refractive index of the surface. | URI: | http://hdl.handle.net/10553/42737 | ISSN: | 0146-9592 | DOI: | 10.1364/OL.34.001906 | Fuente: | Optics Letters [ISSN 0146-9592], v. 34, p. 1906-1908, (2009) |
Colección: | Artículos |
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