Identificador persistente para citar o vincular este elemento: https://accedacris.ulpgc.es/jspui/handle/10553/157273
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorQuevedo Gutiérrez, Eduardo Gregorioen_US
dc.contributor.authorSuárez Rivero, José Pabloen_US
dc.contributor.authorPerdomo Peña, Franciscoen_US
dc.contributor.authorPlaza De La Hoz, Ángelen_US
dc.date.accessioned2026-02-06T07:55:49Z-
dc.date.available2026-02-06T07:55:49Z-
dc.date.issued2011en_US
dc.identifier.urihttps://accedacris.ulpgc.es/jspui/handle/10553/157273-
dc.description.abstractIn this paper it is shown the quality assessment implementation of longest-edge refinement algorithms for application in real-time terrain operations. The proposed refinement schemes are suitable tools for the subdivision of underlying triangle mesh. They pose quite acceptable properties as quality ratio, linear time operation and algorithm simplicity. We provide a quality comparison depending on the number of considered triangles, using a dynamic threshold which directly depends on the longest-edge.en_US
dc.languageengen_US
dc.subject12 Matemáticasen_US
dc.subject.otherRefinementen_US
dc.subject.otherLongest-edgeen_US
dc.subject.otherTriangulationen_US
dc.titleQuality Assessment in Longest-Edge Refinement Schemes for Real-Time Terrain Triangulationsen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceobjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conference12th MASCOT Meeting on Applied Scientific Computing and Tools LPGCen_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.date.coverdate26/10/2011en_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INFen_US
item.fulltextCon texto completo-
item.grantfulltextopen-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Diseño de Sistemas Electrónicos Integrados para el procesamiento de datos-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Matemáticas-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Matemáticas, Gráficos y Computación-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Cartografía y Expresión Gráfica en La Ingeniería-
crisitem.author.deptGIR IUMA: Matemáticas, Gráficos y Computación-
crisitem.author.deptIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.deptDepartamento de Matemáticas-
crisitem.author.orcid0000-0002-5415-3446-
crisitem.author.orcid0000-0001-8140-9008-
crisitem.author.orcid0000-0002-5077-6531-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.parentorgIU de Microelectrónica Aplicada-
crisitem.author.fullNameQuevedo Gutiérrez, Eduardo Gregorio-
crisitem.author.fullNameSuárez Rivero, José Pablo-
crisitem.author.fullNamePerdomo Peña, Francisco-
crisitem.author.fullNamePlaza De La Hoz, Ángel-
Colección:Actas de congresos
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