Identificador persistente para citar o vincular este elemento: http://hdl.handle.net/10553/118652
Campo DC Valoridioma
dc.contributor.authorPerdomo, J. Cen_US
dc.contributor.authorAguasca Colomo, Ricardoen_US
dc.contributor.authorDe La Nuez Pestana, Ignacio Agustínen_US
dc.contributor.authorMartín, Ren_US
dc.date.accessioned2022-09-27T10:50:37Z-
dc.date.available2022-09-27T10:50:37Z-
dc.date.issued1995en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10553/118652-
dc.languagespaen_US
dc.subject3307 Tecnología electrónicaen_US
dc.titlePrototipo de Sistema Automático de Prueba de Relés de Sobreintensidad con Rearme Automáticoen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceobjecten_US
dc.typeConferenceObjecten_US
dc.relation.conferenceVI Jornadas de Tecnología Electrónicaen_US
dc.identifier.urlhttps://biblioref.siani.es/es/authors.php?author=232-
dc.relation.volumeVIen_US
dc.investigacionIngeniería y Arquitecturaen_US
dc.type2Actas de congresosen_US
dc.utils.revisionen_US
dc.identifier.ulpgcen_US
dc.contributor.buulpgcBU-INGen_US
item.grantfulltextnone-
item.fulltextSin texto completo-
crisitem.author.deptGIR SIANI: Computación Evolutiva y Aplicaciones-
crisitem.author.deptIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.deptGIR Energía, Corrosión, Residuos y Agua-
crisitem.author.deptDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.orcid0000-0003-2217-8005-
crisitem.author.orcid0000-0001-6652-2360-
crisitem.author.parentorgIU Sistemas Inteligentes y Aplicaciones Numéricas-
crisitem.author.parentorgDepartamento de Ingeniería Electrónica y Automática-
crisitem.author.fullNameAguasca Colomo, Ricardo-
crisitem.author.fullNameDe La Nuez Pestana, Ignacio Agustín-
Colección:Actas de congresos
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